Дисертацію присвячено питанням розвитку тестового комбінованого діагностування сучасних мікропроцесорних пристроїв. Запропоновано нову структурно-поведінкову модель мікропроцесорних пристроїв, який характеризується паралельним хвильовим алгоритмом розповсюдження проявів несправностей. З метою їх розповсюдження через вузли моделі або сукупність вузлів використано розв'язки невизначених (діофантових) рівнянь або їх систем, одержаних в процесі аналізу програмних модулів вузлів. Наведено способи запобігання конфліктів, що виникають під час побудови тестів, згідно з багатоаспектним методом. На основі нечітких відношень складових моделі розроблено метод мінімізації кількості тестової інформації. Основні результати дослідження використано для створення підсистеми генерації тестів, що дозволило спростити структуру та розширити функціональні можливості програмного забезпечення систем комбінованого діагностування, підвищити достовірність пошуку несправностей та ефективність систем тестового комбінованого діагностування.

  Завантажити