| Бударіна Н.М. Дослідження структури кристалів з великою густиною планарних дефектів методом повнопрофільного аналізу дифрактограм : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.13 / Н.М. Бударіна ; НАН України. Ін-т металофізики ім. Г.В.Курдюмова. — К., 2003. — 20 с.: рис. — Бібліогр.: с. 16-17. — укp.Досліджено вплив планарних дефектів великої густини на дифракційну картину полікристалів з ГЦК-граткою. За результатами моделювання порошкових дифрактограм встановлено кореляцію між дифракційними ефектами та параметрами дефектної структури ГЦК кристалів, а саме, типом і густиною планарних дефектів. Доведено, що раніш розвинуті методи визначення кількісних характеристик дефектів потребують суттєвого коригування. Розроблено метод повнопрофільного аналізу порошкових дифрактограм у випадку одномірного розвпорядкування ГЦК кристалів планарними дефектами. Визначено параметри мікроструктури (середній розмір кристалів, густина двійникових меж, густина дислокацій) нанокристалічних порошків міді, одержаних механічним подрібненням у кульовому млині планетарного типу. Встановлено кореляцію між параметрами мікроструктури та характеристиками механо-активаційного процесу. Завантажити Індекс рубрикатора НБУВ: К202 + Шифр НБУВ: РА324576
Рубрики:
|