Досліджено оптичні властивості та геометричні параметри квантово-розмірних структур (зокрема, надграток) та підкладок для їх отримання (GaAs, Si). Широкий спектральний діапазон електромагнітних випромінювань від рентгенівської до далекої інфрачервоної області дозволив представити мікрорельєф реальних поверхонь Si та GaAs як суперпозицію мікро- та макрорельєфів із відповідними величинами середньоквадратичних відхилень та кореляційних довжин. Пояснено розбіжність параметрів мікрорельєфу, отриманих оптичними методами та мікроскопією атомних сил різним характером отримуваної інформації (локальність - глобальність). Проаналізовано вплив механічних напружень у шарах надгратки (через розбіжність сталих компонент гратки) на зміну енергетичного положення критичних точок. Отримано енергетичні зонні параметри системи за моделлю діелектричної функції, проаналізовано їх залежність від товщин шарів та вмісту фосфору у твердому розчині.

  Завантажити