Досліджено вплив анізотропії фононної та плазмової підсистем на властивості поверхневих фонноних і плазмон-фононних поляритонів у полярних, оптично-анізотропних напівпровідниках ZnO і 6H-SiC і структурах на їх основі. Доведено можливість визначення оптичних та електрофізичних властивостей тонких легованих плівок оксиду цинку на діелектричних і напівпровідникових підкладинках в області "залишкових променів" плівки та підкладинки методами спектроскопії порушеного повного внутрішнього відбивання та ІЧ-відбивання. На базі проведених досліджень розроблено безконтактний спосіб визначення концентрації та рухливості вільних носіїв зарядів у полярних кристалах. Створено оптико-механічний модулятор світлового потоку та неруйнівний спосіб визначення напрямку орієнтації оптичної осі оптично-анізотропних полярних одновісних кристалів.

  Завантажити