Для систем з багатошаровою структурою та дефектами декількох типів побудовано теоретичні моделі дифузнодинамічної комбінованої дифрактометрії для випадків різних умов динамічної дифракції, зокрема, в геометріях дифракції за Лауе та за Бреггом як для прямого, так і для оберненого розсіяння, придатних за цих умов, і у межових випадках динамічно "товстих" і "тонких" кристалів, тобто м'якого та жорсткого випромінень. Проведено узагальнення розробленої моделі на випадок багатопараметричних систем зі складною коміркою та неоднорідним розподілом дефектів у поверхневому шарі, зокрема, для кристалів неодим-галієвого гранату та монокристалічної плівки залізоітрієвого гранату на підкладці гадоліній-галієвого гранату. На основі розроблених моделей передбачено ефект виникнення за рахунок багаторазовості розсіяння для таких систем унікальної чутливості до характеристик дефектів саме змін кривих відбиття залежно від умов динамічної дифракції. Встановлено ефект залежності від дифракційних умов вибірковості чутливості кривих відбиття до якогось одного з наявних типів дефектів і показано, що цей ефект суттєво підсилює дану унікальну чутливість та особливо інформативність діагностики. Запропоновано та розроблено новий метод дифузнодинамічної комбінованої дифрактометрії для багатопараметричної характеризації систем з багатошаровою структурою та складною коміркою та дефектами.

  Завантажити