Досліджено зміни структури поверхні систем після іонної імплантації, зокрема, виявлено формування блістерів на поверхні Ni та Pd плівок на ніобаті літію. Показано, що іонна імплантація призводить до зменшення коефіцієнта відбиття в спектральному діапазоні (0,25 - 15 мкм), а для Pd плівок на ніобаті літію коефіцієнт відбиття не залежить від довжини хвилі в спектральній області lambda=1 - 15 мкм. Еліпсометричні вимірювання показали, що іонна імплантація суттєво модифікує структуру приповерхневих шарів, розупорядковує її та призводить до аморфізації плівки та приповерхневого шару піроелектрика. Розрахунки коефіцієнта відбиття систем у моделях гладкої та шорсткої поверхонь за співвідношеннями Хагена - Рубенса та Топорця показали, що утворення блістерів є основним фактором, який призводить до зменшення коефіцієнта відбиття (збільшення поглинальної здатності) систем та його сталості в широкій області спектра (у випадку паладієвих плівок товщиною d=40 нм). Розроблено піроелектричні приймачі для вимірювання абсолютних значень інтенсивності як слабкого, так і потужного лазерного випромінювання, характеристики яких не поступаються характеристикам відомих теплових приймачів випромінювання.

  Завантажити