![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Віртуальна довідка ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Тематичний інтернет-навігатор ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Наукова електронна бібліотека ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання
![Mozilla Firefox](../../ico/mf.png) |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Формат представлення знайдених документів: | повний | стислий |
Пошуковий запит: (<.>K=Y-BASED CUPRATES<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
| | | | |
1. |
Svetchnikov V. L. TEM on the screw dislocations in YBasub2/subCusub3/subOsub7 - delta/sub thin films = ТЭМ винтовых дислокаций в тонких пленках YBasub2/subCusub3/subOsub7 - delta/sub / V. L. Svetchnikov // Металлофизика и новейшие технологии. - 2001. - 23, № 5. - С. 691-698. - Библиогр.: 23 назв. - англ. Ключ. слова: transmission electron microscopy, screw dislocation, thin films, Y-based cuprates Індекс рубрикатора НБУВ: К232.102.6
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
|