Дисертація присвячена дослідженню структурних неоднорідностей напівпровідникових гетероструктур, багатошарових систем, моно- і полікристалів методами багатохвильової Х-променевої дифрактометрії та дифракції зворотно-розсіяних електронів. Запропоновано підходи для визначення профілів деформації з аналізу багатохвильових дифрактограм Х-променів (φ-скани) та електронів (картини Кікучі). Встановлено взаємозв'язок між змінами багатохвильових спектрів з особливостями будови кристалів різного походження.^UThe dissertation is devoted to the investigation of structural inhomogeneities of semiconductor heterostructures, multi-layerd systems, single crystals and polycrystals by the methods of multi-beam X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction. Approaches for determining deformation profiles by the analysis of multi-beam X-ray (φ-scans) and electron (Kikuchi patterns) diffraction patterns are proposed. The relationship between changes in multi-beam spectra and structural features of crystals of different origins has been established.

Дисертація присвячена дослідженню структурних неоднорідностей напівпровідникових гетероструктур, багатошарових систем, моно- і полікристалів методами багатохвильової Х-променевої дифрактометрії та дифракції зворотно-розсіяних електронів. Запропоновано підходи для визначення профілів деформації з аналізу багатохвильових дифрактограм Х-променів (φ-скани) та електронів (картини Кікучі). Встановлено взаємозв'язок між змінами багатохвильових спектрів з особливостями будови кристалів різного походження.^UThe dissertation is devoted to the investigation of structural inhomogeneities of semiconductor heterostructures, multi-layerd systems, single crystals and polycrystals by the methods of multi-beam X-ray diffractometry and electron backscatter diffraction. Approaches for determining deformation profiles by the analysis of multi-beam X-ray (φ-scans) and electron (Kikuchi patterns) diffraction patterns are proposed. The relationship between changes in multi-beam spectra and structural features of crystals of different origins has been established.

Дисертація присвячена дослідженню основних ауксетичних характеристик моно-, полікристалів і 2D-кристалічних наношарів в рамках теорії пружності для анізотропних кристалів і з використанням методів фізичної акустики та обробки експериметальних результатів за допомогою ІТ технологій. Для побудови характеристичних поверхонь модулів Юнга (ХПМЮ) Еі(x,y,z), кутових розподілів коефіцієнтів Пуассона (КРКП) μ(φ, Θ, ψ), вказівних поверхонь ауксетичності (ВПА) S(x,y,z) та визначення естремальних значень коефіцієнтів Пуассона (ЕЗКП) μmin, μmax і ступеню ауксетичності Sa створено пакет комп’ютерних програм для монокристалів довільної сингонії. Проаналізовані закономірності та механізми формування основних ауксетичних характеристик в таких матеріалах з врахуванням типу хімічного зв’язку.^UThe dissertation is devoted to study the main auxetic characteristics of the single crystals, polycrystals, films and nanolayers within the framework of the elasticity theory for anisotropic crystals, by the methods of physical acoustics and computer technologies for processing experimental results. Software has been developed to construct characteristic surfaces of Young’s moduli (CSYM) Еі, angular distributions of Poisson’s ratios (ADPR) μ(φ, Θ, ψ), indicating auxeticity surfaces (IAS) S(x,y,z), and determine the extreme values of Poisson’s ratios (EVPR) μmin, μmax and degree of auxeticity Sa for single crystals of arbitrary syngony. The regularities and mechanisms of the formation of the main auxetic characteristics in such materials are analyzed taking into account the type of chemical bond.