У дисертації на лабораторному фотометрі-поляриметрі досліджувалося зворотне розсіювання світла у діапазоні фазових кутів 0.2 - 3.5 pi. Досліджено фазові залежності кривих опозиційного ефекту яскравості та ступеню поляризації світла від: розміру та форми частинок зразка, щільності упаковки частинок, матеріалу зразка (діелектрик, метал), альбедо поверхні, а також від довжини хвилі світла, що падає. У діелектриків, на відміну від металів, спостерігалася залежність від розмірів часток. Деякі зразки показали немонотонну поведінку показника кольору. У поляризованому світлі вивчено співвідношення між внесками різних механізмів розсіювання в утворення опозиційного піку в залежності від структури та альбедо зразка.

  Скачати повний текст

Досліджено пружну взаємодію світла з неоднорідним хіральним анізотропним середовищем на прикладі хіральних рідкокристалічних композицій. Вивчено слабо- та сильнозакручені структури. Розроблено швидкісні методи розрахунку поширення світла в слабозакручених рідкокристалічних середовищах та одержано аналітичний вираз коефіцієнта пропускання світла коміркою, залитою закрученим нематичним рідким кристалом, яка розташована між двома поляризаторами, у випадку похилого падіння світла. Запропоновано моделі, які дозволяють описати процеси пружної взаємодії світла з нематико-холестеричним рідким кристалом. З використанням експериментальних даних розв'язано обернену оптичну задачу та одержано основні характеристики запропонованої моделі, що дало змогу розрахунковим шляхом знаходити просторовий та спектральний розподіли розсіяного нематико-холестеричним рідким кристалом світла за довільних умов освітлення. Запропоновано методи знаходження оптимальних умов освітлення та спостереження холестеричних рідкокристалічних дисплеїв. Досліджено розсіяння світла гібридноорієнтованими холестеричними рідкими кристалами, наведено метод знаходження їх матриці розсіяння, а також метод одночасного знаходження товщини холестеричної рідкокристалічної комірки та середнє значення показника заломлення рідкого кристала, даний метод базується на аналізі спектральних положень особливостей в спектрі дзеркально відбитого від комірки світла за різних кутів падіння.

  Скачати повний текст