Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Автореферати дисертацій - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Сортувати знайдені документи за: | ||
| автором | назвою | роком видання |
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
| Знайдено в інших БД: | Наукова електронна бібліотека (1) | Реферативна база даних (28) | Книжкові видання та компакт-диски (26) |
Пошуковий запит: (<.>U=З844.16-06$<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 2 Представлено документи з 1 до 2 |
|||
Категорія: Енергетика. Радіоелектроніка | |||
| 1. | Волкова Т.В. Автоматизація та удосконалення візуального контролю у технологічних процесах виготовлення комутаційних плат на основі методів кодування зображень: Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.07 / Т.В. Волкова ; Севастоп. держ. техн. ун-т. — Севастополь, 1998. — 16 с. — укp. Запропоновано новий засіб підвищення продуктивності систем автоматизованого візуального контролю комутаційних плат, що базується на ефективному кодуванні топології друкованого монтажу. Вирішено задачу оцінки та вибору коду на основі імітаційного моделювання візуального контролю, розроблено новий метод подання топології та орієнтоване на нього програмне забезпечення (ПЗ) системи контролю. Застосування наданого ПЗ для автоматизації типового технологічного процесу дозволило істотно підвищити швидкодіяльність контролю, удосконалити план контролю та знизити собівартість виробів. Індекс рубрикатора НБУВ: З844.16-06-7 Рубрики: | ||
Категорія: Енергетика. Радіоелектроніка | |||
| 2. | Поздєєв С.В. Удосконалення еліпсометричного методу для атестації модифікованих електронним променем поверхонь оптичного скла: Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.11.13 / С.В. Поздєєв ; Нац. техн. ун-т України "Київ. політехн. ін-т". — Черкаси, 2002. — 20 с. — укp. Проаналізовано моделі механізмів впливу електронно-променевої обробки на поверхневі шари оптичних стекол з метою прогнозування властивостей виробів. Розроблено ефективні методи еліпсометричних досліджень даних зразків, визначено принципи еліпсометричного експрес-контролю якості поверхонь оптоелектронних скляних плат, отриманих після електронно-променевої обробки. Надано рекомендації щодо проведення еліпсометричних вимірювань для досягнення найбільш високої точності та продуктивності. Індекс рубрикатора НБУВ: З844.16-06 Шифр НБУВ: РА319977 Пошук видання у каталогах НБУВ Рубрики: | ||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського