Роботу присвячено розв’язанню актуальної науково-прикладної задачі вимірюванню параметрів емісійних спектрів зареєстрованих багатоелементними оптичними сенсорами в умовах нелінійностей передавальної характеристики та перетинання спектральних ліній.Мета роботи – дослідити механізми виникнення спотворень при реєстрації зображень багатоелементними сенсорами, розробити методики компенсації похибок при реєстрації зображень атомно-емісійних спектрів та запропонувати методики визначення параметрів резонансних спектральних ліній в реальних умовах зашумлення сигналу та перетинання спектральних лінії.^UРоботу присвячено розв’язанню актуальної науково-прикладної задачі вимірюванню параметрів емісійних спектрів зареєстрованих багатоелементними оптичними сенсорами в умовах нелінійностей передавальної характеристики та перетинання спектральних ліній.Мета роботи – дослідити механізми виникнення спотворень при реєстрації зображень багатоелементними сенсорами, розробити методики компенсації похибок при реєстрації зображень атомно-емісійних спектрів та запропонувати методики визначення параметрів резонансних спектральних ліній в реальних умовах зашумлення сигналу та перетинання спектральних лінії.