Бази даних

Автореферати дисертацій - результати пошуку

Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (1)
Пошуковий запит: (<.>A=Гладковський В. В.$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

      
1.

Гладковський В. В. 
Властивості хімічно активної плазми ємнісного високочастотного розряду в керованих магнітних полях / В. В. Гладковський. — Б.м., 2019 — укp.

Робота присвячена дослідженню параметрів високочастотного ємнісного розряду в керованих магнітних полях. Запропоновано механізм, який пояснює зменшення швидкості травлення кремнію від напруги автозміщення і зміщення. В основі даного механізму лежить ефект розпорошення конструкцій плазмохімічного реактора, який призводить до блокування оброблюваної поверхні атомами металів. Досліджено вплив магнітного поля на анізотропію та швидкість травлення кремнію. Встановлено лінійний механізм росту швидкості травлення кремнію від напруженості магнітного поля. Виявлено, що анізотропією профілю травлення можна керувати з допомогою магнітного поля. Вперше вивчена зміна спектрів випромінювання плазми ВЧЄ розряду в залежності від керованої напруги зміщення. Встановлено, що з ростом величини негативної напруги автозміщення понад 200 В на спектрах випромінювання плазми з'являються лінії збуджених атомів металів. При цьому молекулярні смуги та атомарні лінії, які належать продуктам дисоціації робочого газу, практично не спостерігаються.^UThe work is devoted to the investigated of the parameters of a high-frequency capacitive discharge in controlled magnetic fields. A mechanism is proposed which explains the decrease in the etching rate of silicon from the self-bias voltage and bias voltage. In the basis of this mechanism is the effect of sputtering of the structures of the plasma-chemical reactor, which leads to the blocking of the treated surface by the metal atoms. The effect of the magnetic field on the anisotropy and the etching rate of silicon was investigated. A linear mechanism was established for increasing the etching rate of silicon from a magnetic field strength. It was found that the anisotropy of the etching profile can be controlled by a magnetic field. The change in the emission spectra of an RF discharge plasma as a function of the controlled bias voltage was investigated for the first time. It was established that with an increase in the negative bias voltage of more than 200 V lines of excited metal atoms appear on the plasma emission spectra. At the same time, molecular bands and atomic lines, which belong to the products of dissociation of the working gas, are practically was not observed.


Шифр НБУВ: 05 Пошук видання у каталогах НБУВ 
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського