Розроблено моделі інтегральної лауе-дифракції для межових випадків як "тонкого", так і "товстого" пружно вигнутих кристалів з дефектами багатьох типів. Наведено комбінований метод багатопараметричної діагностики мікродефектів декількох типів, одночасно присутніх в кристалах, зф деформаційними залежностями повної інтегральної інтенсивності дифрагованого випромінювання у "тонких" та "товстих" кристалах, що спільно обробляються. Створено феноменологічну динамічну модель залежностей повної інтегральної інтенсивності дифрагованого випромінювання у вигнутих кристалах з дефектами від пружного циліндричного вигину та характеристик дефектів для межового випадку "товстого" кристала в геометрії за Лауе, коли реалізуються умови для найбільш чутливого до дефектів динамічного ефекту аномального проходження (ефекту Бормана).

  Скачати повний текст