1. |
Поздєєв С.В. Удосконалення еліпсометричного методу для атестації модифікованих електронним променем поверхонь оптичного скла: Автореф. дис... канд. техн. наук: 05.11.13 / С.В. Поздєєв ; Нац. техн. ун-т України "Київ. політехн. ін-т". — Черкаси, 2002. — 20 с. — укp.Проаналізовано моделі механізмів впливу електронно-променевої обробки на поверхневі шари оптичних стекол з метою прогнозування властивостей виробів. Розроблено ефективні методи еліпсометричних досліджень даних зразків, визначено принципи еліпсометричного експрес-контролю якості поверхонь оптоелектронних скляних плат, отриманих після електронно-променевої обробки. Надано рекомендації щодо проведення еліпсометричних вимірювань для досягнення найбільш високої точності та продуктивності. Скачати повний текст
Індекс рубрикатора НБУВ: З844.16-06 Шифр НБУВ: РА319977 Пошук видання у каталогах НБУВ
Рубрики:
|