Розроблено структурно-функціональні моделі цифрових пристроїв, процедур і алгоритмів кубічного аналізу несправностей під час генерації тестів для зменшення часових і матеріальних витрат, пов'язаних з верифікацією цифрових систем на стадії автоматизованого проектування. У процесі досліджень розв'язано задачі: модифікації автоматної моделі синхронного примітива, описаного двотактним кубічним покриттям, яке дозволяє виконувати аналіз послідовнісних цифрових асинхронних схем у трьох автоматних тактах, що зменшує число псевдозмінних у моделі; створення алгоритму кубічного дедуктивного моделювання несправностей, на основі аналізу кубічних покрить примітивів; розробки програмного комплексу моделювання несправностей, що дозволяє здійснювати оцінку якості генерованих тестів цифрових систем на кристалі.

  Скачати повний текст