Знайдені умови для появи нестійкості запінінгованого стану вихрової лінії при заданих зовнішніх чинниках, яка призводить до депінінгу вихору з дефекту. Розраховано густину максимального транспортного струму, що призводить до зриву вихору з дефекту – густину критичного струму депінінгу. Обчислено енергію активації для процесів термічно активованого крипу вихорів в надпровідниках з лінійними дефектами та її залежність від густини транспортного мейснерівського струму на поверхні надпровідника, порівняною з густиною критичного струму депінінгу. Показано, що на змінному струмі (у НВЧ діапазоні) певний внесок у поверхневий опір надпровідника із лінійними дефектами виникає за рахунок осциляцій вихрових «кінків», що з'єднують частини вихрової нитки, запінінговані на сусідніх дефектах. Теоретично досліджено залежність критичного струму від кута розорієнтації та магнітного поля в бікристалах високотемпературного надпровідника з малокутовою границею нахилу [001].^UThe paper is devoted to solution of some problems related to the mixed state electrodynamics in type-II superconductors with columnar defects.A model of pinning and dynamics of Abrikosov vortices in superconductors of the second kind with linear columnar defects has been developed, taking into account the balance of forces acting on vortices from inhomogeneously distributed transport current, pinning force of linear defects and intrinsic vortex line tension under condition of a weak intervortex interaction. The stationary shape of the vortex line is calculated, which depends on the influence of external factors - the pinning force created by the linear defect, the transport current amplitude on the surface, and the vortex line elastic properties associated with the material anisotropy. The conditions for the appearance of instability of the vortex line pinned stateat given external conditions, which leads to the vortex escape from the columnar defect, are calculated. The density of the maximum transport current is calculated, which leads to the escape of the vortex from the defect - the depinning critical current density.