Пошуковий запит: (<.>U=З972-07$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 132
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
|
| | | |
|
| 1. |
ІВ192936
1970-1994, 25th anniversary compendium of papers from international test conference [Text] : proceedings / ed. P. H. Bardell ; IEEE computer soc. - Los Alamitos, California[etc.] : IEEE computer soc. press, 1994. - XV,794 p.:ill. - ISBN 0-8186-6617-X
Рубрики:
Географічні рубрики:
Видання зберігається у :
| |
|
| | | |
|
| 2. |
ІВ192819
European test conference (3 ; 1993 ; Rotterdam).
Third European test conference, April 19-22, 1993, Rotterdam, The Netherlands [Text] : proceedings / IEEE computer soc. - Los Alamitos, California[etc.] : IEEE computer soc. press, 1993. - XVI, 548 p.:ill. - Альтернативное название : ETC93. - ISBN 0-8186-3360-3
Рубрики:
Видання зберігається у :
| |
|
| | | |
|
| 3. |
ІВ212905
Freibothe, Martin.
Ein Ansatz für die verifikationsgerechte Verhaltensmodellierung für die semi-formale Verifikation von Mixed-Signal-Schaltungen [Text] : Diss / M. Freibothe ; Technischen Universität Dresden. Fak. Informatik. - Dresden : [б.в.], 2008. - 122 S.: Abb. - Бібліогр.: S.114-121
Рубрики:
Видання зберігається у :
| |
|
| | | |
|
| 4. |
ІВ192781
IEEE VLSI test symposium (11 ; 1993 ; Atlantic City).
Digest of papers eleventh annual 1993 IEEE VLSI test symposium, April 6-8, 1993, Atlantic City, New Jersey [Text] / IEEE computer soc. a.o. - Los Alamitos, California[etc.] : IEEE computer soc. press, 1993. - XIII, 365 p.: fig. - ISBN 0-8186-3830-3
Рубрики:
Географічні рубрики:
Видання зберігається у :
| |
|
| | | |
|
| 5. |
ІВ192913
Malaiya, Yaswant K..
Bridging faults and IDDQ testing [Text] / Y. K. Malaiya, R. Rajsuman ; IEEE computer soc. techn. comm. on test technology. - Los Alamitos, California[etc.] : IEEE computer soc.press, 1992. - VI,311 p.:ill. - (IEEE computer soc. press technology ser.). - Бібліогр.: v kinci tekstu. - ISBN 0-8186-3215-1
Рубрики:
Видання зберігається у :
| |
|
| | | |
|
| 6. |
ДС151517
Ємельянов, Ігор Валерійович.
Моделі та методи кубітного тестування цифрових пристроїв на основі memory-driven структур даних [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / Ємельянов Ігор Валерійович ; Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. - Харків, 2018. - 197 арк. : рис., табл. - Бібліогр.: арк. 149-171.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 7. |
РА437459
Ємельянов, Ігор Валерійович.
Моделі та методи кубітного тестування цифрових пристроїв на основі memory-driven структур даних [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / Ємельянов Ігор Валерійович ; Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. - Харків, 2018. - 23 с. : рис., табл.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 8. |
РА399127
Іванов, Дмитро Євгенійович.
Діагностування цифрових пристроїв на базі еволюційного підходу [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.13.05 / Іванов Дмитро Євгенійович ; Держ. вищ. навч. закл. "Донец. нац. техн. ун-т". - Донецьк, 2013. - 36 с. : рис.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 9. |
РА309659
Іванов, Дмитро Євгенійович.
Розробка методів моделювання і тестування пошкоджених цифрових пристроїв у багатозначних алфавітах [Текст] : автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.13 / Іванов Дмитро Євгенійович ; Донецький держ. технічний ун-т. - Донецьк, 2000. - 17 с.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 10. |
РА394894
Абас, Мурад Алі.
Квантові моделі обчислювальних процесів для тестування цифрових систем на кристалах [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / Мурад Алі Абас ; Харк. нац. ун-т радіоелектрон. - Х., 2012. - 20 с.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 11. |
ДС130990
Абас, Мурад Али.
Квантовые модели вычислительных процессов для тестирования цифровых систем на кристаллах [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / Мурад Али Абас ; Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. - Х., 2012. - 229, [3] л. : рис. - Бібліогр.: арк. 164-177.
Рубрики:
Видання зберігається у :
| |
|
| | | |
|
| 12. |
РА374036
Аветисян, Амазасп Суренович.
Построение эффективных алгоритмов для тестирования некоторых классов неисправностей в схемах памяти [Text] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.04 / Аветисян Амазасп Суренович ; Ин-т пробл. информатики и автоматизации НАН РА. - Ереван, 2010. - 15 с. - На арм. яз.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 13. |
ВА647254
Азаров, Олексій Дмитрович.
Технічне діагностування цифрових пристроїв [Текст] : навч. посіб. для студ. бакалавр. напрямків 6.0915 - "Комп'ютерна інженерія" та 6.1601 - "Захист інформації" / О. Д. Азаров [и др.] ; Вінницький національний технічний ун-т. - Вінниця : ВНТУ, 2003. - 66 с.: рис., табл. - Бібліогр.: с. 66
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 14. |
РА402808
Альмадхоун, Самер Мохамед Махмуд.
Методи пошуку помилок проектування в моделях цифрових пристроїв на мовах опису апаратури [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.12 / Альмадхоун Самер Мохамед Махмуд ; Харк. нац. ун-т радіоелектрон. - Х., 2013. - 20 с. : рис., табл.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 15. |
ВА767469
Андрюхин, Александр Иванович.
Моделирование и диагностирование дискретных устройств на переключательном уровне [Текст] : монография / А. И. Андрюхин ; Гос. вуз "Донец. нац. техн. ун-т". - Донецк : Донец. нац. техн. ун-т, 2012. - 256 с. : рис., табл. - Бібліогр.: с. 245-256. - 50 прим. - ISBN 978-966-377-118-2
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 16. |
РА305574
Арапова, Олена Михайлівна.
Розробка методів і засобів тестування цифрових пристроїв в системах покомпонентного діагностування [Текст] : автореф. дис... канд. техн. наук: 05.11.16 / Арапова Олена Михайлівна ; Вінницький держ. технічний ун-т. - Вінниця, 1999. - 19 с.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 17. |
ДС62594
Арапова, Олена Михайлівна.
Розробка методів і засобів тестування цифрових пристроїв в системах покомпонентного діагностування [Текст] : дис... канд. техн. наук: 05.11.16 / Арапова Олена Михайлівна ; Вінницький держ. технічний ун-т. - Вінниця, 1999. - 224 л. - л.156-164
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 18. |
РА357594
Арутюнян, Гурген Эдикович.
Эффективные алгоритмы для тестирования нанометровых устройств статической памяти [Текст] : автореф. дис... канд. техн. наук: 05.13.04 / Арутюнян Гурген Эдикович ; Институт проблем информатики и автоматизации НАН РА. - Ереван, 2008. - 18 с.
Текст на арм. яз.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 19. |
РА414122
Багхдаді, Аммар Авні Аббас.
Кубітні моделі та методи аналізу і діагностування цифрових пристроїв [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / Багхдаді Аммар Авні Аббас ; Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. - Харків, 2015. - 21 с. : рис.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 20. |
РА429572
Бані-Амер, Тамер Абдельмаджід Салех.
Хмарний сервіс-комп'ютинг для тестування і моделювання SoC-компонентів [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / Тамер Абдельмаджід Салех Бані-Амер ; Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. - Харків, 2017. - 23 с. : рис.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
| | |
Простий пошук
Віртуальна довідка
