Пошуковий запит: (<.>U=В372.15,022$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 13
Представлено документи з 1 до 13
|
| 1. | ДС59015 Прядкин С. Л. Применение сканирующей туннельной микроскопии для изучения структуры поверхности проводящих твердых тел [Текст] : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкин Сергей Леонидович ; НАН Украины, Ин-т металлофизики им. Г. В. Курдюмова. - К., 1998. - 91 л.
|
| 2. | ДС62397 Боркач Є. І. Електронно- мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол [Текст] : Дис... канд. техн. наук: 01.04.10 / Боркач Євген Ілліч ; Ужгородський держ. ун-т. - Ужгород, 1999. - 148 л.
|
| 3. | ДС53469 Марченко А. А. Сканирующая туннельная микроскопия тонких пленок длинноцепочечных алифатических соединений [Текст] : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Александр Анатольевич ; НАН Украины, Ин-т физики. - К., 1997. - 144 л.: рис.
|
| 4. | ДС100329 Марченко А. А. Сканирующая туннельная микроскопия органических молекул на интерфейсе жидкость-твердое тело [Текст] : дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Александр Анатольевич ; Ин-т физики НАН Украины. - К., 2007. - 368 л.
|
| 5. | РА351267 Марченко О. А. Сканувальна тунельна мікроскопія органічних молекул на інтерфейсі рідина-тверде тіло [Текст] : Автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Олександр Анатолійович ; Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАН України. - К., 2007. - 33 с.
|
| 6. | РА362037 Сліпченко М. І. Фізичні основи ближньопольової НВЧ діагностики матеріалів і середовищ [Текст] : автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Сліпченко Микола Іванович ; Сумський держ. ун-т. - Суми, 2008. - 36 с.
|
| 7. | РА302214 Прядкін С. Л. Використання скануючої тунельної мікроскопії для вивчення структури поверхні твердих тіл- провідників [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкін Сергій Леонідович ; НАН України, Ін-т металофізики ім. Г. В. Курдюмова. - К., 1998. - 18 с.
|
| 8. | РА305401 Боркач Є. І. Електронно- мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол [Текст] : Автореф. дис... канд. техн. наук: 01.04.10 / Боркач Євген Ілліч ; Ужгородський держ. ун-т. - Ужгород, 1999. - 16 с.
|
| 9. | РА331442 Щеглов Д. В. Наноразмерная модификация поверхности полупроводников и металлов зондом атомно-силового микроскопа [Текст] : Автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Щеглов Дмитрий Владимирович ; Ин-т физики полупроводников СО РАН. - Новосибирск, 2004. - 23 с.: рис.
|
| 10. | ДС109378 Слипченко Н. И. Физические основы ближнеполевой СВЧ диагностики материалов и сред [Текст] : дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01 / Слипченко Николай Иванович ; Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. - Х., 2008. - 351 л. : рис.
|
| 11. | РА377684 Черепанов В. В. Дослідження надтонких органічних плівок методами зондової мікроскопії [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.04 / Черепанов Всеволод Володимирович ; Ін-т фізики НАН України. - К., 2010. - 24 с. : рис.
|
| 12. | ДС122867 Черепанов В. В. Исследования сверхтонких органических плёнок методами зондовой микроскопии [Текст] : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / Черепанов Всеволод Владимирович ; Ин-т физики НАН Украины. - К., 2010. - 167 л. : рис.
|
| 13. | ІС14987 Eggert D. Application of nanoparticles in correlative super-resolution light and electron microscopy [Текст] : diss. / Dennis Eggert ; Fak. für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften der Univ. Hamburg. - Hamburg, 2014. - 131 l. : fig.
|
Простий пошук
Віртуальна довідка