Пошуковий запит: (<.>A=Кладько В$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 11
Представлено документи з 1 до 11
|
| 1. | РА309219 Кладько В. П. Вплив точкових дефектів і їх асоціацій на розсіювання рентгенівських променів реальними кристалами напівпровідників [Текст] : Автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Кладько Василь Петрович ; Київський національний ун-т ім. Тараса Шевченка. - К., 2000. - 32 с.
|
| 2. | ВА629433 Динамическое рассеяние рентгеновских лучей реальными кристаллами в области аномальной дисперсии [Текст] / Л. И. Даценко [и др.] ; НАН Украины, Ин-т физики полупроводников. - К. : Издательский дом "Академпериодика", 2002. - 352 с.: рис.
|
| 3. | ВА671424 Дифрактометрия наноразмерных дефектов и гетерослоев кристаллов [Текст] / В. Б. Молодкин [и др.] ; Ин-т металлофизики им. Г. В. Курдюмова НАН Украины, Ин-т физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе Рос. АН, Черновиц. нац. ун-т им. Ю. Федьковича, Кабардино-Балкар. гос. ун-т. - К. : Академпериодика, 2005. - 364 с.: рис., табл.
|
| 4. | ВА673345 Рентгенооптичні ефекти в багатошарових періодичних квантових структурах [Текст] / В. П. Кладько [и др.] ; ред. В. П. Кладько ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - К. : Наукова думка, 2006. - 288 с.: рис. - (Проект "Наукова книга")
|
| 5. | ВА708050 Динамічна дифракція X-променів у багатошарових структурах [Текст] : монографія / О. М. Єфанов [и др.] ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - К. : Наукова думка, 2008. - 224 c. - (Проект "Наукова книга")
|
| 6. | ВА759637 Физические методы диагностики в микро- и наноэлектронике [Текст] : [колект. моногр.] / Беляев А. Е. [и др.] ; под общ. ред. чл.-кор. НАНУ д-ра физ.-мат. наук, проф. А. Е. Беляева и д-ра техн. наук, проф. Р. В. Конаковой ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева, Украина, Гос. предприятие НИИ "Орион", Украина, ОАО "Интеграл", Республика Беларусь. - Х. : ИСМА, 2011. - 382 с. : рис., табл. - (Состояние и перспективы развития функциональных материалов для науки и техники ®)
|
| 7. | ВА782462 Проблеми діагностики реальних напівпровідникових кристалів [Текст] : [монографія] / П. І. Баранський [та ін.] ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників. - Київ : Наукова думка, 2014. - 461, [1] с. : рис., табл. - (Проект "Наукова книга")
|
| 8. | Онищенко О.С. ВА1918 Проблеми діагностики реальних напівпровідникових кристалів [Текст] : [монографія] / П. І. Баранський [та ін.] ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - Київ : Наукова думка, 2014. - 461, [1] с. : рис., табл. - (Проект "Наукова книга")
|
| 9. | ВА804750 Физико-технологические проблемы нитридгаллиевой электроники [Текст] : [монография] / [А. Е. Беляев и др.] ; под ред. чл.-кор. НАН Украины А. Е. Беляева, д-ра техн. наук, проф. Р. В. Конаковой ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева [и др.]. - Киев : Наукова думка, 2016. - 257, [1] с. : рис. - (Проект "Наукова книга")
|
| 10. | ВА822835 Кладько В. П. Методи рентгенівської дифракційної діагностики напівпровідникових кристалів та гетероструктур [Текст] : навч. посіб. / Кладько В. П., Фодчук І. М. ; Чернів. нац. ун-т ім. Юрія Федьковича. - Чернівці : ЧНУ : Рута, 2017. - 159 с. : рис., табл.
|
| 11. | ВС67562 Інститут фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАН України 1960-2020 [Текст] : [монографія] / [редкол.: О. Є. Бєляєв (голова) та ін.] ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - Київ : Академперіодика, 2020. - 288, [3] с. : фот., табл., рис.
|
Простий пошук
Віртуальна довідка