Простий пошук
Розширений пошук
Алфавітні покажчики

Бази даних

Книжкові видання та компакт-диски - результати пошуку

Віртуальна довідка
Тематичний інтернет-навігатор
Наукова електронна бібліотека
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (29)
Пошуковий запит: (<.>A=Boltovets N$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1
      
Категорія: Фізико-математичні науки   
1.
ВС51818


Physico-technological aspects of degradation of silicon microwave diodes [Text] / A. E. Belyaev [et al.] ; under the gen. ed. of corr. mem. of NASU prof. A. E. Belyaev, dr. phys.-math. sci.; prof. R. V. Konakova, dr. tech. sci. ; Nat. acad. of sciences of Ukraine, V. Lashkaryov inst. of semicondutor physics, State enterprise research inst. "Orion" = Фізико-технологічні аспекти деградації кремнієвих НВЧ діодів / О. Є. Бєляєв [та ін.] ; під заг. ред. О. Є. Бєляєва, Р. В. Конакової : [monograph]. - K. : Akademperiodyka, 2011. - 181 p. : fig., tab. - (Project "Ukrainian scientific book in a foreign language"). - Текст англ. - Парал. тит. арк. укр. - Бібліогр.: с. 162-180. - 300 ex. прим. - ISBN 978-966-360-176-2

Рубрики:
 Монографії < Електричні явища при контакті напівпровідників з напівпровідниками, металами та діелектриками > 
 Напівпровідникові пристрої надвисокої частоти 




Видання зберігається у :
Основний фонд
Відділ обмінно-резервних фондів

 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського