РА375779 Струк А. Я. Особливості формування дифракційного контрасту дислокацій та їх комплексів в кристалах Si у секційній та проекційній X-променевій топографії [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Струк Андрій Ярославович ; Чернів. нац. ун-т ім. Ю. Федьковича. - Чернівці, 2010. - 20 с. : рис.
Простий пошук
Віртуальна довідка