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Загальна кількість знайдених документів : 250
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| 1. | ІР7132 An express method for determination of crystal perfection using synchrotron radiation [Текст] / I. P. Karabekov [a.o.]. - Yerevan : CNIIatominform, 1988. - 11 p.: fig. - (Prepr. / Yerevan physics institute ; 1117(80)-88)
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| 2. | В277192/2 Analiză structurală prin metode fizice. Vol. 2 [Текст] / Emil Luca, Mihai Chiriac, Mitachi Strat, Virgil Bărboiu. - 1985. - 269 p. : fig., tab.
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| 3. | ІР8288 Critical effects at a first-order phase transition im Ni(NH3)6(NO3)2 as observed by incoherent neutron scattering [Текст] / J. A. Janik [et al.]. - Kraków : [Inst. fizyki i techniki jądrowej AGH], 1993. - 9 p. : fig. - (Raport / H. Niewodniczański inst. of nuclear physics ; nr 1614/PS)
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| 4. | В277781/3 Dziadur, Wiesław Mikroskopia elektronowa. T. 3:Praktyczna mikroskopia skaningowa [Текст] : wybrane zastosowania w inżynierii materiałowej / Politechnika Krakowska im. Tadeusza Kościuszki. - Kraków, 2019. - 519 s. : rys. - (Przewodniczący Kolegium redakcyjnego wydawnictw dydaktycznych)
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| 5. | ІВ197271 Dąbrowska-Szata M. Dyfrakcja odbiciowa elektronów o dużej energii w badaniach powierzchni ciała stałego [Текст] / M. Dąbrowska-Szata. - Wrocław : Oficyna wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2000. - 161 s.: rys.
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| 6. | ІС14987 Eggert D. Application of nanoparticles in correlative super-resolution light and electron microscopy [Текст] : diss. / Dennis Eggert ; Fak. für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften der Univ. Hamburg. - Hamburg, 2014. - 131 l. : fig.
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| 7. | ІВ206003 Gotszalk T. P. Systemy mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach mikro-i nanostruktur [Текст] / T. P. Gotszalk. - Wrocław : Oficyna wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2004. - 240 s.: rys.
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| 8. | MFI3599/1-2 Hediger S. Improvement of heteronuclear polarization transfer in solid-state NMR [Текст] : Diss. / S. Hediger ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1997. - 179 p.: fig. - (DISS ETH ; 12106)
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| 9. | ІС14536 Kalaydzhyan A. Investigation of the influence of crystal quality on Borrmann spectroscopy [Текст] : thesis / Aram Kalaydzhyan ; Univ. of Hamburg, Dep. of physics. - Hamburg : [s. n.], 2012. - III, 35 p. : fig. - (DESY-THESIS-2012-046 / Deutsches Elektronen-Synchrotron. Ein Forschungszentrum der Helmholtz-Gemeinschaft, ISSN 1435-8085)
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| 10. | ІР7134 Karabekov I. P. Investigation of crystal perfection by measuring of collimatig slit image widening in diffracted synchrotron radiation [Текст] / I. P. Karabekov, D. L. Egikian. - Yerevan : CNIIatominform, 1988. - 10 p.: fig. - (Prepr. / Yerevan physics institute ; 1120(83)-88)
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| 11. | ІС12092 Klingeler R. Erzeugung und elektronische Struktur von endohedral dotierten Fullerenen [Текст] : Diss. / R. Klingeler ; Universität Zürich. Math.-naturwiss. Fak. - Zürich : [б.в.], 2001. - 129 S.:Abb.
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| 12. | ІС14226 Langer Th. Niedrigdimensionale Plasmonen in epitaktischen Graphenlagen [Текст] : Diss. / Thomas Langer ; Fak. für Mathematik und Physik der Gottfried Wilhelm Leibniz Univ. Hannover. - Hannover : [s. n.], 2012. - 183 S. : Abb.
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| 13. | MFI5408/1-2 Magnano E. Artificial nanostructure-based interfaces [Текст] : Diss. / E. Magnano ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2004. - 111 p.: fig. - (ETH-Diss ; 15201)
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| 14. | ІВ223262 Menzel M. Elemental analysis and characterization of surface and boundary layers using X-ray fluorescence analysis [Текст] : diss. / Magnus Menzel ; Fak. für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften der Univ. Hamburg. - Hamburg, 2015. - 124 p. : fig.
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| 15. | MFI2824/1-2 Meyer H. Festkorperkernresonanz-Spektroskopie und Röntgenbeugung an Pulvern: komplementare Methoden zur strukturellen Charakterisierung mikrokristalliner anorganischer Materialien [Текст] : Abh. / H. Meyer ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1995. - 138 S.:Abb. - (Diss ETH ; 11123)
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| 16. | ІР7159 Orientational dependence of high energy electron multiple scattering at small angles of incidence to crystal [Текст] / A. R. Avakyan [a. o.]. - Yerevan : CNIIatominform, 1987. - 8 p.: fig. - (Prepr. / Yerevan physics institute ; 1024(74)-87)
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| 17. | ІС15516 Roedig P. A new fixed-target approach for serial crystallography at synchrotron light sources and X-ray free electron lasers [Текст] : diss. / Philip Roedig ; Univ. of Hamburg, Dep. of physics. - Hamburg, 2017. - 185 p. : fig. - (Deutsches Elektronen-Synchrotron / Ein Forschungszentrum der Helmholtz-Gemeinschaft, ISSN 1435-8085 ; DESY Thesis-2017-027, July 2017)
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| 18. | В277162/1 Scanning tunneling microscopy. Vol. 1:General principles and applications to clean and absorbate-covered surfaces [Текст] / with contrib. by D. Anselmetti [et al.]. - 1994. - XII. 280 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 20)
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| 19. | ІВ215846 Schmidt H. Zweidimensionale Kohlenstoffkristalle: Elektrischer Transport in Einzel- und Doppellagen-Graphen [Текст] : Diss. / Hennrik Schmidt ; Fak. für Mathematik und Physik der Gottfried Wilhelm Leibniz Univ. Hannover. - Hannover : [s. n.], 2012. - 187 S. : Abb.
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| 20. | ІВ209869 Seitz C. Charakterisierung von Defekten in SiC-Kristallen mit einem 3-Achsen-Diffraktometer für hohe Röntgen-Energien [Текст] : Diss. / C. Seitz ; Naturwissenschaftlichen Fak. der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg. - Erlangen-Nürnberg : [б.в.], 2005. - 145 S.: Abb.
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