Пошуковий запит: (<.>U=В379.221$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 24
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. | ДС48940 Гімчинський О. Г. Рентгеноакустичні дослідження структури реальних монокристалів кремнію [Текст] : Дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.10 / Гімчинський Олександр Георгійович ; Чернівецький ун-т ім. Ю.Федьковича. - Чернівці, 1995. - 156 л.
|
2. | ДС61567 Климов А. А. Примесные центры в слоистом селениде галлия, легированном гадолинием [Текст] : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Климов Анатолий Алексеевич ; НАН Украины, Ин-т физики полупроводников. - К., 1999. - 111 л.: рис.
|
3. | ДС60809 Фар Раафат Саид СВЧ диагностика структурно упорядоченных областей в аморфных полупроводниках [Текст] : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.03 / Харьковский гос. технический ун-т радиоэлектроники. - Х., 1998. - 161 л.
|
4. | ДС65871 Михайлик Т. А. Еліпсометрія надграток і розупорядкованих поверхонь монокристалів GaAs I Si [Текст] : Дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Михайлик Тетяна Аркадіївна ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників. - К., 2000. - 160 арк.
|
5. | ДС66120 Мельник В. М. Рентгенодифрактометричні дослідження змін структурної досконалості бездислокаційних монокристалів кремнію під дією іонного опромінення, відпалу та гідростатичного тиску [Текст] : Дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Мельник Василь Михайлович ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників. - К., 2000. - 169 арк.
|
6. | ДС64501 Мармус П. Є. Рентгенодифракційні дослідження структурних змін в кристалах Si, після високоенергетичного електронного опромінення [Текст] : Дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Мармус Петро Євгенович ; Чернівецький держ. ун-т ім. Ю.Федьковича. - Чернівці, 1999. - 144 л. + дод.
|
7. | ДС98349 Сеті Ю. О. Властивості електронних і екситонних спектрів та їх перенормування взаємодією з фононами у відкритих квантових точках [Текст] : дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.02 / Сеті Юлія Олександрівна ; Чернівецький національний ун-т ім. Юрія Федьковича. - Чернівці, 2006. - 149 арк.
|
8. | РА281442 Бачериков Ю. Ю. Спектроскопія фотолюмінесценції та комбінаційного розсіювання світла тонких напівпровідникових плівок та гетероструктур на основі арсеніду галію [Текст] : Автореф.дис...канд.фіз.-мат.наук:01.04.10 / Бачериков Юрій Юрійович ; АН України, Ін-т фізики напівпровідників. - К., 1993. - 15 с.
|
9. | РА290008 Гімчинський О. Г. Рентгеноакустичні дослідження структури реальних монокристалів кремнію [Текст] : Автореф. дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.10 / Гімчинський Олександр Георгійович ; ЧДУ ім. Ю.Федьковича. - Чернівці, 1995. - 20 с.
|
10. | РА309463 Михайлик Т. А. Еліпсометрія надграток і розупорядкованих поверхонь монокристалів GaAs I Si [Текст] : Автореф. дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Михайлик Тетяна Аркадіївна ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників. - Львів, 2000. - 18 с.
|
11. | РА309490 Мельник В. М. Рентгенодифрактометричні дослідження змін структурної досконалості бездислокаційних монокристалів кремнію під дією іонного опромінення, відпалу та гідростатичного тиску [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Мельник Василь Михайлович ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників. - К., 2000. - 18 с.
|
12. | РА338503 Молотков С. Н. К теории атомной, электронной структуры и туннельной микроскопии поверхности [Текст] : Автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Молотков Сергей Николаевич ; РАН, Институт физики твердого тела. - Черноголовка, 1992. - 12 с.
|
13. | РА363778 Хозя П. О. Розробка теплового вузла для вирощування монокристалів GaAs за LEC технологією зі зниженим вмістом структурних дефектів [Текст] : автореф. дис... канд. техн. наук: 05.27.06 / Хозя Павло Олександрович ; Кременчуцький ун-т економіки, інформаційних технологій і управління. - Кременчук, 2009. - 20 с.
|
14. | РА304119 Фар Раафат Саід НВЧ діагностика сруктурно упорядкованих областей в аморфних напівпровідниках [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.03 / Фар Раафат Саід ; Харківський держ. технічний ун-т радіоелектроніки. - Х., 1998. - 16 с.
|
15. | РА306130 Клімов А. О. Домішкові центри в шаруватому селеніді галію, легованому гадолінієм [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Клімов Анатолій Олексійович ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників. - К., 1999. - 18 с.
|
16. | РА306296 Мармус П. Є. Рентгенодифракційні дослідження структурних змін в кристалах Si, після високоенергетичного електронного опромінення [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Мармус Петро Євгенович ; Чернівецький держ. ун-т ім. Ю.Федьковича. - Чернівці, 1999. - 19 с.
|
17. | РА349508 Сеті Ю. О. Властивості електронних і екситонних спектрів та їх перенормування взаємодією з фононами у відкритих квантових точках [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.02 / Сеті Юлія Олександрівна ; Чернівецький національний ун-т ім. Юрія Федьковича. - Чернівці, 2007. - 20 с.
|
18. | ВС30530 Горелик С. С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Текст] : Учеб. пособие для студ. вузов, обуч. по направл. "Материаловед. и технология новых материалов" / С. С. Горелик [и др.]. - М. : МИСИС, 1994. - 328 с.
|
19. | ВА595237 Бурачек В. Р. Термостимульована релаксація як метод дослідження широкозонних напівпровідників [Текст] : Навч. посіб. / В. Р. Бурачек, П. П. Бейсюк ; Чернівецький держ. ун-т ім. Юрія Федьковича. - Чернівці : Рута, 1999. - 63 с.: іл.
|
20. | Р88017 Фізика і діагностика поверхні напівпровідників: Способи та методи приготування поверхні [Текст] : Метод. рек. до лаб. робіт / уклад. В. В. Хом'як ; Чернівецький держ. ун-т ім. Юрія Федьковича. - Чернівці : Рута, 2000. - 41 с.
|
| |