Пошуковий запит: (<.>U=З852-06$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 45
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
| 1. | ІВ218153 Reso D. Chemische Gasphasenabscheidung von Germanium-Chalkogen-Verbindungen für die Verwendung in nichtflüchtigen Festkörperspeichern [Текст] : Diss. / Denis Reso ; Fak. für Elektrotechnik und Informationstechnik der Otto-von-Guericke-Univ. Magdeburg. - Magdeburg : [s. n.], 2013. - 175 S. : Abb.
|
| 2. | MFI4082/1-2 Rosenblad C. Development of a plasma enhanced chemical vapour deposition system [Текст] : Diss. / C. Rosenblad ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2000. - 114 p.: fig. - (Diss ETH ; 13601)
|
| 3. | ІВ219034 Gumprecht T. Entwicklung von Verfahren für die reflektometrische Schichtdickenmessung und Materialcharakterisierung von dielektrischen Schichten im Vakuum-UV-Bereich bis 120 nm Wellenlänge [Текст] : Diss. / Thomas Gumprecht ; Techn. Fak. der Friedrich-Alexander-Univ. Erlangen-Nürnberg. - Erlangen-Nürnberg : [s. n.], 2014. - VIII, 201 S. : Abb.
|
| 4. | ІВ204292 Boeing N. Nano?! [Текст] : Technik des 21.Jahrhunderts / N. Boeing ; Vorw. G. Binning. - Berlin : Rowohlt, 2004. - 192 S.: Ill.
|
| 5. | ІВ212237 Köhnen A. M. On new routes to solution-processed organic white light-emitting diodes [Текст] : Diss. / A. M. Köhnen ; Mathematisch- Naturwissenschaftlichen Fak. der Universität zu Köln. - Köln : [б.в.], 2008. - 248 p.: fig.
|
| 6. | ВА725525 Камалов А. Б. Oсобенности изготовления и электрофизические свойства контактов n-GaAs(GaP, InP) [Текст] / Камалов А. Б. ; НАН Украини, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - К. : [б.и.], 2008. - 122 с. : рис., табл.
|
| 7. | ІВ215626 Meyer F. Ch. Simulation und experimentelle Verifikation von strukturgrößen- und flächenbelegungsabhängigen Effekten beim chemisch mechanischen Polieren in der Halbleitertechnologie [Текст] : Diss. / Frank Christian Meyer ; Fak. Elektrotechnik und Informationstechnik der Techn. Univ. Dresden. - Dresden : [s. n.], 2004. - 152 S. : Abb.
|
| 8. | MFI4500/1-3 Schaufelbuehl A. Thermal images in CMOS technology [Текст] : Diss. / A. Schaufelbuehl ; Swiss Federal institute of technology Zürich. - Zürich : [б.в.], 2001. - 195 p.: fig. - (ETH-Diss ; 14484)
|
| 9. | ДС151398 Д'яченко Л. І. Інформаційна технологія обробки експериментальних даних у виробництві та дослідженні напівпровідникових кристалів [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.13.06 / Д'яченко Лілія Іванівна ; Чернівец. нац. ун-т ім. Юрія Федьковича. - Чернівці, 2016. - 155, [4] арк. : рис., табл.
|
| 10. | РА428281 Д'яченко Л. І. Інформаційна технологія обробки експериментальних даних у виробництві та дослідженні напівпровідникових кристалів [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.06 / Д'яченко Лілія Іванівна ; Нац. аерокосм. ун-т ім. М. Є. Жуковського "Харків. авіац. ін-т". - Харків, 2017. - 20 с. : рис., табл.
|
| 11. | ВА768716 Хомяк В. В. Виготовлення та методи очистки напівпровідникових пластин і підкладок [Текст] : навч. посіб. / В. В. Хомяк ; Чернів. нац. ун-т ім. Юрія Федьковича. - Чернівці : Рута, 2012. - 95 с. : рис., табл.
|
| 12. | ВА816989 Литвиненко В. Н. Влияние технологических факторов на обратные токи кремниевых диодов [Текст] : монография для специалистов в обл. технологии пр-ва кремниев. полупроводников. приборов / В. Н. Литвиненко, Н. В. Богач ; Херсон. нац. техн. ун-т, Каф. информ.-измерит. технологий электроники и инженерии. - Херсон : Вышемирский В. С., 2017. - 155 с. : рис., табл.
|
| 13. | ВА811564 Литвиненко В. Н. Влияние технологических факторов на параметры диодов Шоттки [Текст] : монография для специалистов в обл. технологии пр-ва кремниевых полупроводниковых приборов / В. Н. Литвиненко, Н. В. Богач ; Херсон. нац. техн. ун-т, Каф. информ.-измерит. технологий электроники и инженерии. - Херсон : Вишемирський В. С., 2017. - 115 с. : рис., табл.
|
| 14. | РА410117сл. Герасименко М. В. досконалення технологічного процесу виготовлення сонячних елементів на основі гетероструктур (p) α-Si:H/(n) c-Si [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.06 / Герасименко Микола Вікторович ; Харків. нац. ун-т радіоелектроніки. - Харків, 2013. - 20 с. : рис.
|
| 15. | РА423198 Левицький С. М. Лазерно-індуковане формування бар'єрних структур для ядерних детекторів та розробка термоелектричних перетворювачів енергії на основі халькогенідів другої та четвертої груп [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.06 / Левицький Сергій Миколайович ; НАН України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - Київ, 2016. - 19 с. : рис.
|
| 16. | РА409094 Єрмоленко Є. О. Методи та засоби підвищення ефективності комп'ютерних систем вимірювання вольт-амперних характеристик напівпровідникових приладів [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.05 / Єрмоленко Євген Олександрович ; НАН України, Ін-т електродинаміки. - Київ, 2014. - 20 с. : рис.
|
| 17. | ВА790417 Зенин В. В. Монтаж кристаллов и внутренних выводов в производстве полупроводниковых изделий [Текст] / В. В. Зенин, В. А. Емельянов, В. Л. Ланин. - Минск : Интегралполиграф, 2015. - 378, [1] с. : рис., табл.
|
| 18. | РА293923 Бойко Т. Г. Низькотемпературна дифузія фосфору в кремній з твердих планарних джерел [Текст] : Автореф. дис... канд. тех. наук: 05.27.03 / Бойко Тарас Георгійович ; Державний ун-т "Львівська політехніка". - Львів, 1996. - 21 с.
|
| 19. | ДС52099 Бойко Т. Г. Низькотемпературна дифузія фосфору в кремній з твердих планарних джерел [Текст] : Дис... канд. техн. наук: 05.27.03 / Бойко Тарас Георгійович ; Державний ун-т "Львівська політехніка". - Львів, 1996. - 149 с.
|
| 20. | ДС138412 Ніконова А. О. Омічні контакти типу Ме-SiC для напівпровідникових приладів [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.27.06 / Ніконова Аліна Олександрівна ; Запоріз. держ. інж. акад. - Запоріжжя, 2008. - 113 арк. : рис., табл.
|
| | |
Простий пошук
Віртуальна довідка
