Пошуковий запит: (<.>U=В338.28$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 54
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
|
| | | |
|
| 1. |
ДС51489
Мельник, Владимир Николаевич.
Теория и практика фотограмметрических методов в электронно- миктроскопических исследованиях [Текст] : дис... д-ра техн. наук: 05.24.02 / Мельник Владимир Николаевич ; Волынский гос. ун-т им. Леси Украинки. - Луцк, 1995. - 404 л.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 2. |
ДС85180
Кшевецький, Олег Станіславович.
Фізичні методи та пристрої для визначення реальної структури кристалів X-променевою багатохвильовою дифракцією [Текст] : дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Кшевецький Олег Станіславович ; НАН України та МОН України, Ін-т термоелектрики. - Чернівці, 2004. - 139 арк. - Бібліогр.: арк. 134-139.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 3. |
ДС77209
Покропивный, Алексей Владимирович.
Компьютерное моделирование изображений поверхностей и контактных взаимодействий в атомно-силовом микроскопе [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Покропивный Алексей Владимирович ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т проблем материаловедения им. И. Н. Францевича. - К., 2002. - 212 л. - Библиогр.: л. 194-212
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 4. |
ДС53357
Грушко, Владимир Игоревич.
Закономерности изменения туннельного тока в системе острие- образец сканирующего туннельного микроскопа [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Грушко Владимир Игоревич ; НАН Украины, Ин-т физики. - К., 1996. - 112 л.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 5. |
ДС57483
Ушаков, Андрей Викторович.
Динамика и кинетика электронов в ионно- пучковых системах холловского типа [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.20 / Ушаков Андрей Викторович ; НАН Украины, Науч. физ.-технол. центр. - Х., 1998. - 142 л. - Бібліогр.: л. 131-140.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 6. |
ДС54158
Мордик, Сергей Николаевич.
Оптимизационные исследования источника ионов и сканирующей системы ядерного микрозонда [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.04 ; 01.04.01 / Мордик Сергей Николаевич ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т приклад. физики. - Сумы, 1997. - 147 с. : рис.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 7. |
РА296504
Мордик, Сергій Миколайович.
Оптимізаційні дослідження іонного джерела та скануючої системи ядерного мікрозонду [Текст] : автореф. дис. канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04 ; 01.04.01 / Мордик Сергій Миколайович ; Сумський держ. ун-т. - Суми, 1997. - 22 с.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 8. |
РА293081
Мельник, Володимир Миколайович.
Теорія і практика фотограмметричних методів в електронно- мікроскопічних дослідженнях [Текст] : автореф. дис... д-ра техн. наук: 05.24.02 / Мельник Володимир Миколайович ; Державний ун-т "Львівська політехніка". - Львів, 1995. - 51 с.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 9. |
РА295156
Грушко, Володимир Ігорович.
Закономірності зміни тунельного струму в системі голка- зразок скануючого тунельного мікроскопа [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Грушко Володимир Ігорович ; НАН України, Ін-т фізики. - К., 1996. - 19 с.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 10. |
РА340577
Казбеков, Касым Садирович.
Ионно-акустический измерительный канал в установке IMSA-100 [Текст] : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / Казбеков Касым Садирович. - Алматы, 2005. - 24 с.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 11. |
РА323423
Покропивний, Олексій Володимирович.
Комп'ютерне моделювання зображень поверхонь і контактних взаємодій в атомно-силовому мікроскопі [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Покропивний Олексій Володимирович ; Нац. акад. наук України, Ін-т пробл. матеріалознавства ім. І. М. Францевича. - К., 2003. - 20 с. : рис.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 12. |
РА364322
Овсепян, Артур Багратович.
Исследование неоднородных сред и поверхностей методом СВЧ ближнего поля [Текст] : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.03 / Овсепян Артур Багратович ; Ереванский гос. ун-т. - Ереван, 2009. - 18 с.
Описано по переводу. - Текст на арм. яз.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 13. |
РА299815
Ушаков, Андрій Вікторович.
Динаміка та кінетика електронів в іонно- пучкових системах холлівського типу [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.20 / Ушаков Андрій Вікторович ; НАН України, Наук. фіз.-технол. центр. - Х., 1998. - 15 с.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 14. |
РА333090
Кшевецький, Олег Станіславович.
Фізичні методи та пристрої для визначення реальної структури кристалів X-променевою багатохвильовою дифракцією [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Кшевецький Олег Станіславович ; НАН України, Ін-т термоелектрики. - Чернівці, 2004. - 20 с.
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 15. |
1881/Т-181
Тангоффер, Людвиг.
Микроскоп и его употребление [Текст] : руководство к общей микроскопической технике для врачей и студентов: Пер. с нем. / Л. Тангоффер ; предисл. Н. А. Хржонщевский. - К. : Издание киевского книгопродавца Л.В. Ильницкого, 1881. - ХVІ, 231 с.: рис.
Рубрики:
Видання зберігається у :
| |
|
| | | |
|
| 16. |
Р80385
Новиков, Ю. А..
Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов [Текст] / Ю. А. Новиков [и др]. - М. : [б.в.], 1995. - 23 с. - (Препр. / РАН, Институт общей физики. Физика твердого тела. Отдел колебаний ; n19)
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 17. |
ВА588482
Куницький, Юрій Анатолійович.
Електронна мікроскопія [Текст] : навч. посібник для студ. інж.-фіз. і фіз. спец. вузів / Ю. А. Куницький, Я. І. Купина. - К. : Либідь, 1998. - 389 с. - ISBN 966-06-0102-6
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 18. |
ВА613666
Егорова, О. В..
С микроскопом на "ты" [Текст] / О. В. Егорова. - СПб. : ИНТЕРМЕДИКА, 2000. - 326 с.: ил. - ISBN 5-89720-028-9
Рубрики:
Видання зберігається у :
Основний фонд
| |
|
| | | |
|
| 19. |
Р91698
Вебер, Владимир Леонгардович.
Наблюдение неоднородностей показателя рассеяния в стратифицированной среде методом отражательной конфокальной микроскопии [Текст] / В. Л. Вебер. - Нижний Новгород : [б.и.], 2000. - 16 с.: рис. - (Препринт / РАН, Институт прикладной физики ; №523)
Рубрики:
Видання зберігається у :
| |
|
| | | |
|
| 20. |
ВА689002
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванов. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. - (Мир материалов и технологий ; 6-08). - Библиогр.: в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 (англ.)
Рубрики:
Видання зберігається у :
Універсальний підсобний фонд
| |
| | |
Простий пошук
Віртуальна довідка