Простий пошук
Розширений пошук
Алфавітні покажчики

Бази даних

Книжкові видання та компакт-диски - результати пошуку

Віртуальна довідка
Тематичний інтернет-навігатор
Наукова електронна бібліотека
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (29)
Пошуковий запит: (<.>U=В343.54$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
      
Категорія: Фізико-математичні науки   
1.
ВА681784


Діагностика поверхні поляризованим світлом [Текст] / Л. В. Поперенко [и др.] ; Київський національний ун-т ім. Тараса Шевченка. - К. : ВПЦ "Київський ун-т", 2007. - 336 с.: рис. - Бібліогр.: в кінці розділів. - ISBN 966-594-882-2

Рубрики:
 Еліпсометрія 
 Оптичні методи вимірювань 




Видання зберігається у :
Універсальний підсобний фонд
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
2.
РА398063

Мішакова, Тетяна Олександрівна.
Еліпсометрія напівпровідникових планарних наноструктур з урахуванням ефектів ближнього поля [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Мішакова Тетяна Олександрівна ; [Нац.] акад. наук України, Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова. - К., 2013. - 18 с. : рис., табл.

Рубрики:
 Дисертації < Консолідовані наноструктури > 
 Дисертації < Еліпсометрія > 




Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
3.
РА424021

Коструба, Андрій Михайлович.
Еліпсометрія ультратонких плівкових структур [Текст] : автореф. дис. ... д-ра фіз.-мат. наук : 01.04.05 / Коструба Андрій Михайлович ; Ін-т фіз. оптики ім. О. Г. Влоха. - Львів, 2016. - 32 с. : рис.

Рубрики:
 Дисертації < Еліпсометрія > 
 Дисертації <Тонкі шари твердих тіл> 




Видання зберігається у :
Основний фонд

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
4.
ВА810826

Одарич, Володимир Андрійович.
Прикладна фотометрична еліпсометрія [Текст] / В. А. Одарич. - Київ : ПУЛЬСАРИ, 2017. - 413, [1] с. : рис., табл. - Бібліогр. в кінці розд. - 200 прим. - ISBN 978-617-615-072-5

Рубрики:
 Еліпсометрія 
 Загальні роботи < Фізика напівпровідників > 




Видання зберігається у :
Основний фонд
Універсальний підсобний фонд
Відділ міжбібліотечного науково-інформаційного сервісу

      
Категорія: Фізико-математичні науки   
5.
ВА811651

Влох, Ростислав Орестович.
Еліпсометрія ультратонких плівкових структур [Текст] : монографія / Влох Р. О., Коструба А. М. ; Ін-т фіз. оптики ім. О. Г. Влоха. - Львів : Ін-т фіз. оптики ім. О. Г. Влоха, 2017. - 293 с. : рис., табл. - Бібліогр.: с. 260-293. - 15 прим. - ISBN 978-966-97386-3-9

Рубрики:
 Еліпсометрія 
 Монографії < Тонкі шари твердих тіл > 




Видання зберігається у :
Основний фонд

 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського