Еліпсометрія як метод дослідження та контролю тонкоплівкових шарів [Текст] : навч. посібник / В. В. Хомяк ; Чернівецький національний ун-т ім. Юрія Федьковича. - Чернівці : Рута, 2005. - 62 с.: рис. - Бібліогр.: с. 59-61. - ISBN 966-568-756-5 На обкл. авт. не зазн.