Науково-методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпровідників [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.01.02 / Сичікова Яна Олександрівна ; Укр. нац. наук. центр "Ін-т метрології". - Харків, 2019. - 40 с. : рис., табл.