Пошуковий запит: (<.>U=В338.28,022$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 24
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
| 1. | ДС85180 Кшевецький О. С. Фізичні методи та пристрої для визначення реальної структури кристалів X-променевою багатохвильовою дифракцією [Текст] : Дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Кшевецький Олег Станіславович ; НАН України та МОН України, Ін-т термоелектрики. - Чернівці, 2004. - 139 арк.
|
| 2. | ДС77209 Покропивный А. В. Компьютерное моделирование изображений поверхностей и контактных взаимодействий в атомно-силовом микроскопе [Текст] : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Покропивный Алексей Владимирович ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т проблем материаловедения им. И. Н. Францевича. - К., 2002. - 212 л.
|
| 3. | ДС53357 Грушко В. И. Закономерности изменения туннельного тока в системе острие- образец сканирующего туннельного микроскопа [Текст] : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Грушко Владимир Игоревич ; НАН Украины, Ин-т физики. - К., 1996. - 112 л.
|
| 4. | ДС54158 Мордик С. Н. Оптимизационные исследования источника ионов и сканирующей системы ядерного микрозонда [Текст] : Дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.04 ; 01.04.01 / Мордик Сергей Николаевич ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т приклад. физики. - Сумы, 1997. - 147 с. : рис.
|
| 5. | РА296504 Мордик С. М. Оптимізаційні дослідження іонного джерела та скануючої системи ядерного мікрозонду [Текст] : Автореф. дис. канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04 ; 01.04.01 / Мордик Сергій Миколайович ; Сумський держ. ун-т. - Суми, 1997. - 22 с.
|
| 6. | РА295156 Грушко В. І. Закономірності зміни тунельного струму в системі голка- зразок скануючого тунельного мікроскопа [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Грушко Володимир Ігорович ; НАН України, Ін-т фізики. - К., 1996. - 19 с.
|
| 7. | РА340577 Казбеков К. С. Ионно-акустический измерительный канал в установке IMSA-100 [Текст] : Автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / Казбеков Касым Садирович. - Алматы, 2005. - 24 с.
|
| 8. | РА323423 Покропивний О. В. Комп'ютерне моделювання зображень поверхонь і контактних взаємодій в атомно-силовому мікроскопі [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Покропивний Олексій Володимирович ; Нац. акад. наук України, Ін-т пробл. матеріалознавства ім. І. М. Францевича. - К., 2003. - 20 с. : рис.
|
| 9. | РА364322 Овсепян А. Б. Исследование неоднородных сред и поверхностей методом СВЧ ближнего поля [Текст] : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.03 / Овсепян Артур Багратович ; Ереванский гос. ун-т. - Ереван, 2009. - 18 с.
|
| 10. | РА333090 Кшевецький О. С. Фізичні методи та пристрої для визначення реальної структури кристалів X-променевою багатохвильовою дифракцією [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Кшевецький Олег Станіславович ; НАН України, Ін-т термоелектрики. - Чернівці, 2004. - 20 с.
|
| 11. | РА377435 Геворгян С. Г. Исследование слабо выраженных особенностей сверхпроводимости с применением новых радиочастотных методов [Текст] : автореф. дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.07, 01.04.09 / Геворгян Самвел Герасимович ; НАН Армении, Ин-т приклад. проблем физики. - Ереван, 2010. - 39 с. : рис.
|
| 12. | MFI3273/1-2 Sirringhaus H. Ballistic-electron-emission microscopy on epitaxial CoSi2/Si interfaces [Текст] : Diss. / H. Sirringhaus ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich. - Zürich : [б.в.], 1995. - 124 p.: fig. - (Diss.ETH ; 11173)
|
| 13. | РА392697 Шклярський В. І. Теоретичні засади та методи побудови сканувальних телевізійних оптичних мікроскопів високої роздільної здатності [Текст] : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.12.17 / Шклярський Володимир Іванович ; Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Л., 2012. - 36 с.
|
| 14. | ІВ216756 Stocker M. Topographische und spektroskopische Untersuchungen magnetischer Moleküle mit dem Rastertunnelmikroskop [Текст] : Diss. / Michael Stocker ; Naturwissenschaftlichen Fak. der Friedrich-Alexander-Univ. Erlangen-Nürnberg. - Erlangen-Nürnberg : [s. n.], 2011. - 93 S. : Abb.
|
| 15. | ІВ218140 Baumann D. Aufbau eines ultrahochauflösenden Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskops [Текст] / Danny Baumann ; Fak. Mathematik und Naturwissenschaften der Techn. Univ. Dresden. - Berlin : mbv, 2011. - V, 220 S. : Abb.
|
| 16. | РА399919 Сінькевич О. В. Ближньопольова мікрохвильова інтроскопія діелектриків з урахуванням просторового розподілу поля зонда [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.03 / Сінькевич Олег Володимирович ; Київ. нац. ун-т ім. Тараса Шевченка. - К., 2013. - 19 с. : рис.
|
| 17. | РА410426 Шантир А. С. Удосконалення методів та засобів калібрування для вимірювальних растрових електронних мікроскопів [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.01.02 / Шантир Антон Сергійович ; Нац. техн. ун-т України "Київ. політехн. ін-т". - Київ, 2014. - 20 с. : рис.
|
| 18. | РА412170 Поливанов В. В. Стабилизация электрического питания электронного микроскопа [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук / В. В. Поливанов. - М., 1953. - 12 с. : рис.
|
| 19. | ІС15153 Sickmann J. Ortsaufgelöste Messung der Gitterverspannungen in Halbleitern mittels Dunkelfeld off-axis Elektronenholographie [Текст] : Diss. / Jan Sickmann ; Fak. Mathematik und Naturwissenschaften der Techn. Univ. Dresden. - Dresden, 2014. - 170 S. : Abb.
|
| 20. | ІС15182 Heidorn S. -C. Charakterisierung der Grenzflächen von Wasser, Salz und Silber(111) [Текст] : Diss. / Sarah-Charlotta Heidorn ; Fak. für Mathematik und Physik der der Gottfried Wilhelm Leibniz Univ. Hannover. - Hannover, 2015. - IV, 155 S. : Abb.
|
| | |
Простий пошук
Віртуальна довідка