Викладено у кінематичному наближенні теорію дифракції рентгенівських променів (РП) речовиною в кристалічному, аморфному, рідкому та газоподібному станах, проаналізовано вплив різного роду спотворень кристалічної гратки на просторовий розподіл інтенсивності розсіяння. Описано властивості та методи реєстрації РП, розкрито суть основних понять кристалографії. Розглянуто найтиповіші експериментальні задачі, які розв'язуються методами рентгенівського структурного аналізу.

Изложена в кинетическом приближении теория дифракции рентгеновских лучей (РЛ) веществом в кристаллическом, аморфном, жидком и газообразном состояниях, проанализировано влияние различного рода искажений кристаллической решетки на пространственное распределение интенсивности рассеивания. Описаны свойства и методы регистрации РЛ, раскрыта сущность основных понятий кристаллографии. Рассмотрены наиболее типичные экспериментальные задачи, решаемые методами рентгеновского структурного анализа.

Изложены общие и некоторые специальные вопросы возбуждения рентгеновского излучения, его поглощения и рассеяния веществом. Внимание уделено рассеянию излучения объектами в различном агрегатном состоянии и твердыми растворами с различной степенью упорядочения. Рассмотрено влияние субструктуры кристалла на форму, ширину и положение рентгеновских интерференционных линий. Приведены методы аппроксимации, описаны дифракционные эффекты, обусловленные дефектами упаковки. Изложены особенности динамического рассеяния, теория которого лежит в основе рентгеновской интерферометрии. Показаны области использования рентгеновских интерферометров.

Індекс рубрикатора НБУВ: Г124.1-18 + Г521 + В361.1

Рубрики:

Вуглець

Основні поняття кристалохімії

Рентгеноструктурний аналіз

Шифр НБУВ: ВА864543 Пошук видання у каталогах НБУВ