Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134,021

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: ДС57814 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134,021

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: ДС57814 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Надано теоретичне та експериментальне обгрунтування запропонованого нового методу диференційно-інтегральної трикристальної рентгенівської дифрактометрії недосконалих монокристалів. Розглянуто принципи роботи трикристального рентгенівського дифрактометра (ТРД) в диференційному режимі вимірювань. Надано опис оригінальної конструкції та схеми універсального ТРД, створеного в ІМФ НАН України з метою реалізації запропонованого методу. У випадку брегг-дифракції рентгенівських променів у монокристалах з однорідно розподіленими обмеженими дефектами отримано вирази, що встановлюють аналітичний зв'язок між відношенням інтегральних інтенсивностей дифузного та когерентного піків ТРД від досліджуваного кристала, тобто відношенням диференційних інтенсивностей дифузного та когерентного розсіяння, проінтегрованих по сфері Евальда поблизу вузла оберненої гратки, та характеристиками дефектів різного роду. Вирази, що отримані, використано для високоінформативної діагностики дефектів за кутовими залежностями інтегральних параметрів профілів інтенсивностей ТРД, виміряних від монокристала кремнію, який містить хаотично розподілені частки нової фази. Обговорюються переваги запропонованої модифікації методу ТРД.

Ключ. слова: рентгеновское излучение, когерентное рассеяние, изгиб
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: трехволновая дифракция, эффект Бормана, одномерная деформация, аномальное прохождение рентгеновских лучей
Індекс рубрикатора НБУВ: В376.1 + В372.134

Рубрики:

Твердість. Пружність. Поширення звуку (пружних коливань) в монокристалах

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж68690 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: фактор поглощения излучения, дифрактометрия, плавленный кварц, монокристаллический сплав Ni - 11,8% ат.Mo.
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 + В378.21

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Структурний аналіз монокристалів металів

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: solid solution, short-range order, X-ray diffuse scattering, short-range order parameters
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134 + К230.401

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Методи дослідження станів і структури кольорових металів і сплавів

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Представлено мікроскопічний аналіз розсіяння X-променів на періодичній кристалічній структурі, що моделює гетероепітаксійні шари. У розрахунках враховано механічні напруження на гетероконтакті, перенормовані їх взаємодією з електронами провідності. Показано, що незалежно від концентрації носіїв, інтенсивність розсіяння має монотонно спадний характер з ростом нарощуваного шару. У надгратках з більшою концентрацією носіїв інтенсивність розсіяння більша.

Ключ. слова: nonstoichoimetry, x-ray diffraction, order-disorder transformation, reactive diffusion
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Досліджено фазовий перехід у монокристалах телуриту вісмуту методом високотемпературного рентгеноструктурного аналізу. Виявлено стрибкоподібні зміни параметрів комірки при 805 °С. Виходячи з отриманих даних, можна казати, що у телуриті вісмуту має місце фазовий перехід 1-го роду.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.134,022 + В372.31,022

Рубрики:

Дифракція рентгенівських променів в кристалах

Дефекти

Шифр НБУВ: РА311274 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Дисертацію присвячено систематичному екпериментальному дослідженню та використанню для створення комплексу оригінальних методів діагностики нового покоління динамічних рентгенодифракційних ефектів дифузного розсіяння (ДР) у монокристалах, що містять флуктуаційні поля статичних зміщень від мікродефектів і пружний вигин. Створено й обгрунтовано фізичні рентгенодифракційні моделі, які виявилися адекватними в найбільш складних випадках спотворень, що не знаходили коректного опису в рамках існуючих до моменту початку роботи уявлень та теорій динамічної дифракції. Визначено складні випадки: крупних мікродефектів, розміри яких співмірні з екстинкційною довжиною, адитивного впливу одночасної присутності у монокристалі мікродефектів декількох типів, виявлених у роботі експериментально аномальних ефектів неадитивного впливу на характер поведінки деформаційних залежностей повної (когерентної та дифузної) інтегральних інтенсивностей для Лауе-дифракції у тонкому кристалі флуктуаційних полів статичних зміщень від мікродефектів і пружним вигином. Створено комплекс рентгенодифрактометричних методів нового покоління, що використовують динамічні ефекти ДР для кількісного неруйнівного контролю характеристик мікродефектів у складних випадках спотворень. Запропоновано нові методи діагностики: диференціально-інтегральної та нові варіанти методів інтегральної трикристальної рентгенівської дифрактометрії, повних кривих качання, оригінальний рентгенодифрактометричний метод контролю густини дислокацій, контролю локальної пружної деформації, структурної однорідності монокристалічних пластин і глибини порушених поверхневих шарів.

Для випадку асиметричної Лауе-дифракції проведено дисперсійний аналіз розсіяння рентгенівських променів у пружно зігнутому кристалі. Встановлено, що за умов зменшення області когерентного розсіяння, зростання асиметрії розсіяння призводить до явища "розгалуження" деформації, тобто до зменшення її впливу на розсіяння рентгенівських променів. За допомогою рівнянь Такагі - Топена одержано систему диференціальних рівнянь, що описують міжгілкове розсіяння рентгенівських променів у пружно зігнутому кристалі. Доведено: міжгілковий обмін можна розглядати як наслідок динамічної взаємодії ейкональних мод, що відповідають різним гілкам дисперсійної поверхні. У випадку симетричної Лауе-дифракції отримано асимтотичні розв'язки рівнянь Такагі - Топена для амплітуд прохідної та дифрагованої хвиль у сильно зігнутому кристалі. З'ясовано, що за даних умов, сильні деформації кристалічної гратки можуть призводити до ефективного відключення некогерентного каналу розсіяння рентгенівських променів.

Побудовано узагальнену динамічну теорію розсіяння рентгенівських променів у кристалах з хаотично розподіленими дефектами кулонівського типу, в якій, на відміну від існуючих, вперше враховано вплив динамічного характеру дифузного розсіяння на коефіцієнти екстинкції, що обумовлена розсіянням на дефектах, а також вплив одночасно декількох типів дефектів. Теорія вперше вільна від припущення про малість ефектів екстинкції, які обумовлені розсіянням на дефектах. Узагальнену теорію адаптовано до конкретних експериментальних умов дифрактометрії методами нового покоління, які використовують динамічні ефекти дифузного розсіяння. На цій основі запропоновано та теоретично й експериментально обгрунтовано оригінальні інформативні та високо чутливі методи дифрактометрії: узагальнений метод повних кривих відбиття, комбінований метод повної інтегральної відбивної здатності та метод енергодисперсійної інтегральної трикристалічної дифрактометрії.

У випадку симетричної Лауе-дифракції для кристалів зі згином параболічної форми, отримано систему диференціальних рівнянь, які описують міжгілкове розсіяння рентгенівських променів. Показано, що міжгілковий обмін можна розглядати як результат динамічної взаємодії ейкональних мод, які повністю визначають внутрішньогілкове розсіяння рентгенівських променів. Зроблено висновок про те, що міжгілкове розсіяння є значним тільки в області кристала, для якої суттєвим є багаторазове когерентне розсіяння рентгенівських променів. Особливості міжгілкового розсіяння рентгенівських променів досліджено також у випадку сильних деформацій, коли має місце кінематичний режим дифракції.

Узагальнені аналітичні вирази для повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) тонких монокристалів з мікродефектами одержано для випадку дифракції рентгенівських променів за Лауе. Виміряно енергетичні залежності ПІВЗ та сепаровані когерентної і дифузної компонент ПІВЗ з використанням набору характеристичних жорстких рентгенівських випромінювань. За результатами аналізу вимірювань визначено характеристики мікродефектів у термооброблених кристалах кремнію.

Відносно прості аналітичні формули, виведені для повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) монокристалів з випадково розподіленими дефектами у граничних випадках динамічної дифракції рентгенівських променів (наближення тонкого та товстого кристалів для симетричної геометрії дифракції Лауе та асиметричної - Брегга), застосовано для розробки нових (комбінованих) методів ПІВЗ з метою визначення параметрів дефектів. Вирази для ПІВЗ залежать в явному вигляді від статичного фактора Дебая - Валлера та двох коефіцієнтів поглинання завдяки дифузному розсіянню для когерентної та дифузної компонент ПІВЗ, до складу яких входять параметри дефектів та дифракційні параметри. Спільна обробка товщинних (у випадку Лауе) та/або азимутальних (у випадку Брегга) залежностей ПІВЗ, які вимірювались для різних довжин хвиль та/або рефлексів, підвищує чутливість та надійність методів ПІВЗ під час діагностики параметрів дефектів. Можливості комбінованих методів продемонстровано теоретично та експериментально для відпаленого монокристала кремнію.

Рассмотрены проблемы, возникающие при компьютерной обработке дифракционных спектров, полученных на стандартном оборудовании от наиболее "ходового" технического материала - поликристалла. Представлены оптимизационные алгоритмы компьютерного индуцирования, критерии достоверностей и предельные возможности метода.