Розглянуто голографічний запис в кристалах групи силенітів двома пучками світла, що поширюються в зустрічних напрямках. Досліджено три подібні зразки кристалів BSO, BTO та BGO. Показано, що максимальна амплітуда гратки та максимальна дифракційна здатність спостерігаються для пучків з різним нахилом площини лінійної поляризації, який залежить від сталої оптичної активності та від товщини зразка. Наведено аналітичний вираз для залежності дифракційної здатності гратки від поляризації хвиль, що її записують. Числові розрахунки порівняно з результатами експерименту.

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.226 + В379.273.4

Рубрики:

Тонкі шари напівпровідників

Феримагнетизм. Ферити

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

З використанням методу повнопрофільного аналізу дифракційної картини досліджено еволюцію мікроструктури порошків міді, одержаних подрібненням у планетарному млині. Встановлено загальні тенденції зміни розміру кристалітів, густини дислокацій і густини двійникових меж у разі зміни енергетичних параметрів подрібнення.

Отмечено, что высокопрочные стекла на основе металлов имеют очень высокие характеристики коррозионной устойчивости и механической прочности. Их деформирование является абсолютно упругопластическим с протяженным участком упругости. Однако при комнатной температуре их макропластичность проявляется слабо, несмотря на наличие локальных пластических деформаций в полосах скольжения. Анализ релаксации напряжений позволил исследовать микромеханизмы пластического деформирования и оценить значение объема активации.