Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Наукова електронна бібліотека (2)Книжкові видання та компакт-диски (1)Журнали та продовжувані видання (1)
Пошуковий запит: (<.>A=FORTA$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 2
Представлено документи з 1 до 2

      
Категорія:    
1.

Bouttout S. 
Parametric study of stacked microstrip patch antenna with dissimilar substrates / S. Bouttout, Y. Bentrcia, S. Benkouda, T. Fortaki // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2018. - 10, № 4. - С. 04004-1-04004-4. - Бібліогр.: 11 назв. - англ.

A complete parametric study of stacked rectangular microstrip patches printed on non-magnetic isotropic substrate is performed. The numerical results are obtained by applying the method of moments to the electric field integral equations. Detailed closed-form expressions of Green's functions are presented. The new results found indicate that, the lower resonant frequency is mainly determined by the patch etched on the thicker layer. The layer having the higher permittivity defines which resonance is mainly determined by the bottom patch, either the upper resonance if the upper layer has the higher permittivity, or the lower resonance in opposite case. All these results offer better understanding and thus a better control of the dual-band operating of the microstrip antenna. Therefore, a proper choice of the antenna parameters becomes possible in order to obtain the desired functional characteristics.


Індекс рубрикатора НБУВ: З845

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ 

      
Категорія: Фізика   
2.

Karboua H. 
Effects of boron diffusion on titanium silicide formation = Вплив дифузії бору на утворення силіциду титану / H. Karboua, N. Dahraoui, M. Boulakroune, T. Fortaki // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2023. - 15, № 1. - С. 01019-1-01019-5. - Бібліогр.: 17 назв. - англ.

Метод вторинно-іонної мас-спектрометрії (ВІМС) було використано для дослідження дифузії бору в шарах силіциду титану за кількох умов відпалювання та температури. Експериментальні профілі було змодельовано за допомогою моделі, заснованої на відомих законах Фіка та ефекті, що супроводжує дифузію бору під час силіцидації, як сегрегація та кластеризація. Порівняння результатів моделювання з літературними даними в однакових умовах відпалювання вказують на добру відповідність із результатами інших авторів. Це пояснює, що дифузія бору в силіциді титану залежить від сегрегації, кластеризації та перевищує розчинність твердої речовини. Моделювання базується на числовому методі кінцевих різниць.


Індекс рубрикатора НБУВ: В375.6 + В372.6

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ 
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського