Изложены основы вероятностно-физического подхода к исследованию и оценке надежности электронных элементов и систем. Освещены теория планирования испытаний на надежность при сокращенных, безотказных, в том числе форсированных испытаниях, методы обработки результатов испытаний и оценки показателей надежности. Рассмотрены методы расчета надежности элементов и систем, методы оценки и прогнозирования надежности объектов по измерению определяющих параметров. Описана методология оценки статистических характеристик определяющего параметра (процесса деградации) по исследованию единичных образцов путем использования информации принятых репрезентативных миниобъектов (миниобразцов, миниреализаций). Представлены методы прогнозирования остаточного ресурса на разный момент их эксплуатации на основе первичной информации о надежности объектов и статистических данных в процессе эксплуатации и на основании измерения определяющего и диагностических параметров в процессе их эксплуатации.