Наведено сучасні експериментальні методи дослідження поверхневих електронних станів, а також хімічного складу, кристалічної структури поверхневих шарів напівпровідників. Проаналізовано вплив поверхневих рівнів на висоту потенціального бар'єра в області контакту метал-напівпровідник.

Приведены современные экспериментаьные методы исследования поверхностных электронных состояний, а также химического состава, кристаллической структуры поверхностных слоев полупроводников. Проанализировано влияние поверхностных уровней на высоту потенциального барьера в области контакта металл-полупроводник.