Приведены основные сведения о дифракции рентгеновских лучей на кристаллах и применении методов структурного анализа для исследования остаточных макронапряжений в поверхностных слоях массивных материалов и тонких пленках. Изложены метод наклонных съемок и особенности его развития для изучения напряженного состояния в текстурированных и монокристаллических образцах. Освещены основные положения взаимодействия рентгеновских лучей с веществом, раскрыты основы электронографической тензометрии. Выполнен анализ ошибок при использовании рентгенодифрактометрических методик для измерения остаточных макронапряжений.