Аль Матарнех Рамі Методи і алгоритми оцінки тестопридатності цифрових пристроїв на етапі проектування : Автореф. дис... канд. техн. наук : 05.13.12 / Аль Матарнех Рамі; Харк. держ. техн. ун-т радіоелектрон. - Х., 2000. - 16 c. - укp.
Розвинуто методи оцінки тестопридатності засобів обчислювальної техніки. Розроблено методи та алгоритми, що підвищують якість та ефективність оцінок тестопридатності з використанням семантики структури цифрових пристроїв. Запропоновано формування системи автоматизованого проектування діагностичного забезпечення на основі експертної системи фреймового типу з елементами нечіткої логіки.