Пошуковий запит: (<.>K=ФОТОЕЛЕКТРОНН$<.>+<.>K=СПЕКТРОСКОПІЯ$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 649
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
| 1. | Ж16425 Martin P. M. Capacitance spectroscopy of InAs self-assembled quantum dots [Текст] / P. M. Martin, A. E. Belyaev [et al.] 1: 1 // Фізика напівпровідників, квантова та оптоелектроніка.-С.7-12
|
| 2. | Ж68850/фіз. Mason N. J. Molecular spectroscopy probed by synchrotron radiation and electron scattering [Текст]: Вип. 8, ч. 1 // Наук. вісн. Ужгород. ун-ту. Сер. Фізика.-С.60-66
|
| 3. | Ж14683 Бажора Ю.І. Діагностичні можливості лазерної кореляційної спектроскопії у стоматології [Текст]: 2 // Вісн. стоматології.-С.7-10
|
| 4. | Ж26988 Галій П. В. Електронно-емісійна спектроскопія поверхонь поруватого кремнію [Текст] 45: 8 // Укр. фіз. журн.-С.985-993
|
| 5. | Ж26988 Мельник В. І. Спектроскопія і кінетика загасання триплетних збуджень у кристалічному і аморфному бензофеноні [Текст] 44: 1-2 // Укр. фіз. журн.-С.86-92
|
| 6. | Ж68777 Galiy P. Auger electron spectroscopy analysis of adsorbed gas condensated on the clevage crystal surfaces of indium and gallium chalcogenides [Текст] Т. 3 // Фіз. зб.-С.104-112
|
| 7. | Ж68850/фіз. Lykhach Y. Electron spectroscopy study of metal particle - gas molecule interaction [Текст]: Вип. 8, ч. 2 // Наук. вісн. Ужгород. ун-ту. Сер. Фізика.-С.286-289
|
| 8. | Ж16425 Gorbach T. Ya. Electroreflectance spectroscopy and scanning electron microscopy study of microrelief silicon wafers with various surface pretreatments [Текст] / T. Ya. Gorbach, R. Yu. Holiney [et al.] 1: 1 // Фізика напівпровідників, квантова та оптоелектроніка.-С.66-70
|
| 9. | Ж16425 Venger Ye. F. Heat tolerance of titanium boride and titanium nitride contacts to gallium arsenide [Текст] 2: 1 // Фізика напівпровідників, квант. електроніка та оптоелектроніка.-С.124-132
|
| 10. | Ж16425 Avramenko S. F. Investigation of structural perfection of SiC ingots grown by a sublimation method [Текст] 2: 1 // Фізика напівпровідників, квант. електроніка та оптоелектроніка.-С.76-79
|
| 11. | Ж68850/фіз. Cebulski J. Magnetophonon spectroscopy of ZnxCdyHg1 - x - yTe [Текст]: Вип. 8, ч. 1 // Наук. вісн. Ужгород. ун-ту. Сер. Фізика.-С.80-84
|
| 12. | Ж68850/фіз. Tsud N. Structural chatacterization of Pd thin film grouth on Al2O3 using photoelectron and ion spectroscopy [Текст]: Вип. 8, ч. 2 // Наук. вісн. Ужгород. ун-ту. Сер. Фізика.-С.316-320
|
| 13. | Ж68777 Borodchuk A. The effect of oxygen, methane and water vapor on the photoemission propeties of Cs3Sb and (Na2KSb)Cs thin films [Текст] Т. 3 // Фіз. зб.-С.143-147
|
| 14. | Ж68850/фіз. Gomonai A. I. Three-photon spectroscopy of neutral samarium [Текст]: Вип. 8, ч. 1 // Наук. вісн. Ужгород. ун-ту. Сер. Фізика.-С.162-164
|
| 15. | Ж26988 Тютюнник О. М. Акустична спектроскопія розчинів LiClO4 в поліетиленоксидах [Текст] 45: 1 // Укр. фіз. журн.-С.62-63
|
| 16. | Ж29109 Находкін М. Г. Електронна спектроскопія сплавів заліза під час окиснення in situ [Текст] 36: 3 // Фіз.-хім. механіка матеріалів.-С.78-81
|
| 17. | Ж26988 Гоцульський В. Я. Кореляційна спектроскопія рідких кристалів поблизу точки фазового перетворення [Текст] 44: 4 // Укр. фіз. журн.-С.464-467
|
| 18. | Ж26988 Лещук Р. Є. Оптична спектроскопія активаторних центрів Eu3+ у монокристалах Ca3Ga2 Ge4O14 [Текст] 44: 10 // Укр. фіз. журн.-С.1257-1260
|
| 19. | Ж28502 Хижун О. Ю. Особенности электронной структуры мононитридов тантала различных модификаций [Текст]: 7-8 // Порошковая металлургия.-С.93-101
|
| 20. | Ж14161 Николюк П. К. Особенности электронной структуры тернарных соединений лантана и церия [Текст] 23: 5 // Металлофизика и новейшие технологии.-С.585-590
|
| | |
Простий пошук
Віртуальна довідка