Розглянуто розв'язання задачі комп'ютерної класифікації рентгенівських спектрів, отриманих енергодисперсійним спектрометром на просвічуючому електронному мікроскопі ПЭМ-125Л виробництва "АО Селмі" (м.Суми).

Розглянуто елементи електронної та іонної оптики, будову та принципи дії просвічувального, растрового, тунельного, електронно-зондового мікроскопів та аналізаторів, формування зображення. Описано основи кінематичної та динамічної теорії контрастів, електронографічного аналізу монокристалічних, полікристалічних та аморфних зразків. Подано приклади застосування Фур'є-когерентного аналізу для обробки електронно-мікроскопічних зображень.

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.351 + В338.28

Рубрики:

Фазові рівноваги. Фазові перетворення

Електронні і іонні мікроскопи

Шифр НБУВ: Ж14159 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Предложен метод оценки фокусности растрового изображения, основанный на использовании в качестве информационных признаков максимума градиента распределения яркости на рецепторном поле изображения и уровень яркости, вычисленный как частный случай лапласиана и соответствующий 5% уровню функции распределения градиента яркости. Алгоритм решения задачи реализован в среде MS DevStudio Visual C++ 5.0. Проведен компьютерный эксперимент по автофокусировке, моделирующий работу растрового микроскопа.

Описано сучасний стан та перспективи розвитку програмного забезпечення системи рентгеноспектрального мікроаналізу, що використовується в електронних мікроскопах-мікроаналізаторах РЕММА-101А та РЕММА-102.

Предложен математический аппарат для вычисления дифракционной составляющей глубины резко изображаемого пространства в оптическом микроскопе по критериям Рэлея и Марешаля. Проведен сравнительный анализ результатов расчета по известным и предложенным формулам.

There are proposed the mathematical apparatus for calculation of diffraction part of a focus depth in a light microscope based on Raylegh and Mareshal criterias. There is made a comparison analysis of the results obtained using known and proposed formulas.

Предложена и исследована конструкция пьезокерамического сканера для наномикроскопов на основе биморфных пьезоэлементов. Построена и исследована модель этого сканера при помощи программы MicroCap 7.0. Установлено, что уровень связи между биморфными пьезоэлементами, которые создают колебания по координатам X, Y, Z, не превышает -20 дБ.

Is offered and the design of the piezoceramic scanner for nanomicroscopes on a basis bimorphic of piezoelements is investigated. Is constructed and the model of this scanner is investigated through the program MicroCap 7.0. Is established, that the level of connection between by bimorphic elements, which create fluctuations on coordinates X, Y, Z, does not exceed -20 dB.

Запропоновано підхід до класифікаційної автонастройки електронного мікроскопа за зображенням у межах методу функціонально-статистичних випробувань. Процес настройки розглянуто як ітераційну процедуру пошуку максимуму інформаційної міри різноманітності початкового (розфокусованого) і поточного класів зображення.

Запропоновано методику енергетичного розрахунку цифрового мікроскопа, яка дозволяє розрахувати співвідношення сигнал/шум у вихідному сигналі з урахуванням характеристик джерела випромінювання, втрат випромінювання в колективі, конденсорі та мікрооб'єктиві з тубусною лінзою, а також з урахуванням накопичення носіїв заряду у фоточутливих елементах цифрової камери та цифрової фільтрації зображень.

Наведено три методики оцінювання якості цифрового мікроскопу, за основані на порівнянні вихідних зображень реального та ідеалізованого цифрових мікроскопів. Перша методика базується на нормалізованій середньоквадратичній різниці як абсолютній мірі розрізненості зображень. Друга методика побудована на оцінюванні коефіцієнта кореляції, котрий відображає якість як різницю лінійних комбінацій вихідних зображень. Третя методика грунтується на застосуванні потоку інформації у цифровому мікроскопі.

Узагальнено питання, пов'язані з вибором структури, особливостями формування сигналу та оцінкою характеристик телевізійного мікроскопа.

Представлены конструкция и результаты исследования сканирующего микроскопа мм диапазона с высоким пространственным разрешением для исследования магнитной неоднородности низкоразмерных магнетиков и ферромагнетиков методом электронного спинового резонанса в диапазоне 30 - 45 ГГц. Статическое магнитное поле в исследуемой области образца создано с помощью специального концентратора магнитного поля. Автоматизированная система управления и регистрации сигналов позволяет проводить механическое перемещение образца относительно рабочего зазора концентратора с минимальным шагом 1 мкм и регистрировать амплитуду СВЧ поля в каждой точке пространства с применением цифрового синхронного детектирования. Проведены измерения электронного спинового резонанса в контрольных магнитных образцах с известной намагниченностью насыщения.

Створено пристрій для дослідження дисперсії діелектриків у широкому діапазоні частот: від сотень мегагерців до десятків гігагерців. Проведено тестові вимірювання, які продемонстрували працездатність схеми та вказали на напрямки її вдосконалення.

Розглянуто питання юстування електростатичної фокусувальної лінзи електронно-променевої трубки сканувального оптичного мікроскопа. Запропоновано спосіб юстування з використанням квадрупольних магнітних полів. Наведено алгоритм процедури юстування.

Розглянуто проблеми створення п'єзосканерів. Запропоновано і досліджено конструкцію п'єзокерамічного сканера для наномікроскопів на основі біморфних п'езоелементів. Побудовано і досліджено модель цього сканера за допомогою пакета програми FemLab 3.2.

Зазначено, що рух кінчика вістря вивчався за допомогою методу молекулярної динаміки, а рух усього кантилевера - за допомогою теорії катастроф. Розроблено методику комп'ютерної побудови зображень поверхонь з дефектами в атомно-силовому мікроскопі у режимах постійної сили та висоти сканування. Вивчено вплив радіуса вістря та режимів на роздільну здатність і контраст зображень. Досліджено механізми деформацій кінчика вістря, визначено критичні висоти сближення та сили сканування. Мікросистему "тримач кантилевера - кантилевер - вістря - поверхня" запропоновано розглядати як адгезійну і фрикційну машини катастроф. Детально вивчено явища "стрибків до контакту" та "прилипання - ковзання". Розраховано величини стрибків вістря та сили, виявлено причини нестійкого руху. Встановлено критерії руху без стрибків, одно- та багатократних ковзань. Для запобігання руйнування вістрь запропоновано безкатастрофні та беззносні режими сканування.

Досліджено процес взаємодії зонда зі зразком і розроблено математичну модель рівняння вимірювання розмірів на атомно-силовому мікроскопі, в якій враховуються похибки, що виникають в процесі взаємодії зонда та зразка. Розглянуто проблему виникнення переміщення вістря зонда під час нахилу осі сканувального зондового мікроскопа, одержано математичну модель впливу знайденого ефекту на точність вимірювання. Вдосконалено метод коригування параметрів неортогональності сканера. Розвинено метод сканування, який проводить вимірювання параметрів поверхні з кутом нахилу бічних стінок виступів менше кута нахилу твірної конуса зонда.

Проаналізовано зміну збільшення й розрізнення кріогенного польового іонного мікроскопа у разі зменшення розмірів зразків у нано- і субнанометрових діапазонах. Встановлено аномальне екстразбільшення польових іонних зображень та покращання межі розрізнення. Визначено атомну будову елементарних вуглецевих нанотрубок за допомогою створеної методики з субангстремним розрізненням. Зазначено, що субнанотрубки стабільні у вигляді пентагональних призм з прямокутними елементарними комірками на бічних гранях. Доведено оборотні стереоконформаційні перетворення вуглецевих ланцюжків і пряме динамічне зображення атомів у процесі даних перетворень за результатами досягнення межі розрізнення в далекій субангстремній області.

Рассмотрены процессы деформации, возникающие в кантилеверах атомно-силового микроскопа. Получены математические модели, описывающие деформации кантилевера в пространстве в зависимости от величины и направления внешних сил.

Представлен комбинированный метод расчета пьезокерамического датчика силы, используемого при наноиндентировании в методах сканирующей зондовой микроскопии. Определены основные расчетные величины, построены их распределения, а также оптимальный метод производства пьезокерамического датчика силы, а именно шликерное литье.