Пошуковий запит: (<.>U=В338.28,022$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
|
1. | РА323423 Покропивний О. В.НАН України. Ін-т пробл. матеріалознавства ім. І.М.Францевича. Комп'ютерне моделювання зображень поверхонь і контактних взаємодій в атомно-силовому мікроскопі [Текст] : Автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07.- URL: /ard/2003/
|
2. | РА399919 Сінькевич О. В. Ближньопольова мікрохвильова інтроскопія діелектриків з урахуванням просторового розподілу поля зонда [] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.03 / Сінькевич Олег Володимирович ; Київ. нац. ун-т ім. Тараса Шевченка
|
3. | РА410426 Шантир А. С. Удосконалення методів та засобів калібрування для вимірювальних растрових електронних мікроскопів : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.01.02 / Шантир Антон Сергійович ; Нац. техн. ун-т України "Київ. політехн. ін-т"
|
4. | РА430361 Олійник О. О. Підвищення чутливості вимірювання мікроскопу нестаціонарної фотопружності для дослідження матеріалів електроніки : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.27.01 / Олійник Остап Олегович ; Нац. техн. ун-т України "Київ. політехн. ін-т ім. Ігоря Сікорського"
|
5. | РА430387 Баланюк Ю. В. Методи удосконалення телевізійного сканувального мікроскопа з освітленням досліджуваних мікрооб'єктів в ультрафіолетовому діапазоні : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.17 / Баланюк Юрій Вікторович ; Нац. ун-т "Львів. політехніка"
|