Пошуковий запит: (<.>U=В343.41$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 90
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
| 1. | Ж60673 Влчек М. Многокомпонентные халькогенидные неорганические резисты: свойства и применение в дифракционной оптике [Текст]: 33 // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника.-С.137-141
|
| 2. | Ж69398 Уваров В. Н. Геометрические свойства безызбыточной апертуры реконструктивной интерферометрической системы [Текст] 3: 2 // Радиофизика и электроника.-С.90-95
|
| 3. | Ж60673 Венгер Е. Ф. Численное моделирование влияния толщины покровного слоя и адсорбции молекул на угол распространения в планарном поляризационном интерферометре [Текст]: Вып. 34 // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника.-С.142-148
|
| 4. | Ж22412/а Будник М. М. Система рівнянь триконтактного квантового надпровідникового інтерферометра у S стані [] // Доповіді Національної академії наук України, 1999,N № 10.-С.92-95
|
| 5. | Ж60673 Ширшов Ю. М. Оптимизация конструкции планарно-поляризационного интерферометра [Текст]: Вып. 34 // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника.-С.170-177
|
| 6. | Ж14258 Копилович Л. Е. Конфигурации интерферометра с полным покрытием гексагональной области пространственных частот [Текст] 15: 4 // Кинематика и физика небес. тел.-С.377-382
|
| 7. | Ж16425 Fekeshgazi I. V. Properties and application of the unequal thickness two-component interference systems [] // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, 2000. т.Т. 3,N № 3.-С.371-378
|
| 8. | Ж41115 Khramtsova V. I. PbF2 as a material for interference coatings of IR spectral region [] // Functional Materials, 2000. т.Т. 7,N № 1.-С.162-164
|
| 9. | Ж23882 Кульчин Ю. Н. Измерение динамики градиентов физических полей в реальном времени с помощью адаптивной волоконно-оптической измерительной системы [Текст]: 2 // Оптико-електрон. інформ.-енерг. технології.-С.178-182
|
| 10. | Ж16425 Pervak V. Y. The spectral properties of the reflective interference filters [] // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, 2001. т.Т. 4,N № 2.-С.134-138
|
| 11. | Ж69398 Нестеров П. К. Квазиоптические интерферометры с повышенной фазовой чувствительностью [Текст] 8: 3 // Радиофизика и электроника.-С.420-425
|
| 12. | Ж61280 Личак О. В. Спектральні перетворення сигналів у різницевому спекл-інтерферометрі Ліндерця [] // Відбір і обробка інформації, 2004,N Вип. 21.-С.74-79
|
| 13. | Ж60673 Данилюк В. М. Детектування ультразвукових деформацій в пластинах кремнію за допомогою адаптивного інтерферометра на основі CdTe:Ge [Текст]: Вып. 39 // Оптоэлектроника и полупроводниковая техника.-С.157-161
|
| 14. | Ж14388 Беляева А. И. Многослойные полимеркристаллические интерференционные системы отрезающего и полосового типов [Текст] 14: 1 // Физика и техника высоких давлений.-С.96-108
|
| 15. | Ж26988 Bondarchuk Ya. M. Development and application of resonator mirrors with displaced spectral characteristics for selection of laser transitions [Текст]: 7 // Укр. фіз. журн.-С.631-635
|
| 16. | Ж15835 Kopilovich L. E. Nonredundant hexagonal grid interferometer configurations with element-free central domains [Текст] 9: 2 // Радиофизика и радиоастрономия.-С.188-193
|
| 17. | Ж61280 Кошовий В. В. Особливості застосування інтерферометра Майкельсона для реєстрації ультразвукового сигналу в томографічній системі [] // Відбір і обробка інформації, 2005,N Вип. 23.-С.83-88
|
| 18. | Ж15835 Kopilovich L. E. Multielement linear interferometers with one remote element [Текст] 10: 2 // Радиофизика и радиоастрономия.-С.120-123
|
| 19. | Ж16425 Pervak V. Yu. Broadband interference filters with suppression of high reflection bands of 4-, 5- and 6-th orders [] // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, 2005. т.Т. 8,N № 3.-С.80-84
|
| 20. | Ж61280 Назарчук З. Т. Дифракція E-поляризованої електромагнітної хвилі на системі тонких проникливих розсіювачів [] // Відбір і обробка інформації, 2006,N Вип. 25.-С.5-12
|
| | |
Простий пошук
Віртуальна довідка
