Вивчено динаміку розсіяння фотонних та ядерних хвильових пакетів на квантових випромінювачах у одновимірних хвилеводах та на перетинах ізо-енергетичних поверхонь у молекулярних системах. Досліджено взаємодію хвильового пакету в когерентному стані з дворівневим атомом (кубітом) в одновимірному хвилеводі. Встановлено, що за великої середньої кількості фотонів у вхідному імпульсі відбите випромінювання може бути як суб- так і суперпуассонівським залежно від сили зв'язку між кубітом та хвилеводом. Для опису розсіяння хвильових пакетів у одно- та двофотонних станах на кубіті використано метод функції розподілу фотонної густини у координатно-імпульсному просторі. Показано, що середня функція розподілу розсіяного однофотонного хвильового пакету набуває від'ємних значень у певних областях фазового простору навіть за умови позитивної початкової функції розподілу. Отримано аналітичні вирази для просторової та спектральної густини розсіяних фотонів. Досліджено розсіяння двофотонного хвильового пакета на резонаторі, зв’язаному з кубітом. Отримано та розв'язано рівняння руху для амплітуд ймовірностей, що описують квантовий стан системи. Встановлено, що стан розсіяних фотонів є заплутаним, що якісно відрізняє його від сепарабельного стану вхідних фотонів. Розглянуто дисперсне зчитування стану кубіта за допомогою фотодетектора в граничному випадку однофотонного вимірюючого імпульсу. Продемонстровано фундаментальні обмеження на такий метод дисперсного зчитування кубіта. Представлено новий підхід до опису скорельованої електронно-ядерної динаміки в молекулярних системах. Використовуючи гамільтоніан, який описує переходи між адіабатичними електронними рівнями, та формалізм оператора густини, отримано рівняння еволюції населеностей електронних адіабатичних рівнів та рівняння руху ядер. На основі запропонованого теоретичного підходу створено алгоритм для моделювання неадіабатичних процесів у молекулярних системах.

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.2 + В346.34

Рубрики:

Фізика напівпровідників

Інтерференція. Дифракція < Оптичні явища >

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.2 + В346.34

Рубрики:

Фізика напівпровідників

Інтерференція. Дифракція < Оптичні явища >

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Представлен обзор наиболее корректных структурных моделей для описания малоуглового рентгеновского рассеяния от углеродных нанотрубок (УНТ). Показано, что модель жестких стержней, в которой нанотрубки представлены как стержни, не учитывает их гибкость и агрегацию, поэтому плохо согласуется с экспериментом, модель гибких цилиндров не учитывает образование больших агрегатов из УНТ. Установлено, что модель гибких спутанных трубок хорошо описывает эксперимент в широком интервале углов рассеяния и позволяет получать исчерпывающую информацию о структурных параметрах УНТ и их агрегации.

Побудовано динамічну теорію ковзного розсіяння на поверхневій гратці нанодротів. Встановлено поведінку основних піків і найближчих сателітів залежно від геометрії сканування та параметрів поверхневої гратки. Побудовано теорію проходження рентгенівського випромінення через плоский хвилевід вперте з врахуванням можливості бреггівської дифракції на монокристалічних хвилеводних обкладинках. У порівнянні із випадком без дифракції, показано розширення кута захоплення падаючого на хвилевід випромінення та можливість посилення потоку рентгенівських променів на виході. Для кристала з приповерхневими дефектами типу центрів дилатації запропоновано динамічну модель ковзного дифузного розсіяння. Встановлено динамічні ефекти картин розсіяння. Показано, що шляхом належного вибору кутових параметрів когерентна та дифузна складові розсіяння можуть бути розділені у оберноному просторі.

Індекс рубрикатора НБУВ: В346.34

Рубрики:

Інтерференція. Дифракція < Оптичні явища >

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: Г531.3 + В346.34 в641

Рубрики:

Інтерференція. Дифракція < Оптичні явища >

Шифр НБУВ: Ж41279 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Робота присвячена розвитку мікроскопічної теорії багаточастинкової динаміки сильнокорельованих електронних систем щодо сильного зв'язку та теорії динамічного середнього поля, а також дослідженню багаточастинкових сприйнятливостей і перерізів резонансного комбінаційного розсіювання. В межах даного підходу побудовано самоузгоджений опис динаміки та термодинаміки моделей типу бінарного сплаву та порівняно результати узагальненого наближення хаотичних фаз та теорії динамічного середнього поля. Для моделей типу Хаббарда одержано, що одновузлова задача теорії динамічного середнього поля розпадається на підпростори, які відповідають фермі-рідині з феромагнітним основним станом і не-фермі-рідині з антиферомагнітним основним станом. Побудовано теорію динамічного середнього поля для систем з корельованим переносом. Розроблено схему сильного зв'язку для одержання незвідних вершин і динамічних сприйнятливостей у теорії динамічного середнього поля. Розраховано спектральні співвідношення для багаточасових кореляційних функцій з урахуванням неергодичних внесків та побудовано формалізм аналітичного продовження для одержання резонансних внесків у переріз непружного розсіяння світла та рентгенівських променів. Досліджено вплив резонансних ефенктів на перебудову спектрів розсіяння.

  Скачати повний текст

Викладено основи динамічної теорії розсіяння (ДТР) Х-хвиль. Описано властивості електромагнітного поля, взаємодію електромагнітних хвиль з середовищем та поляризацію Х-хвиль. Висвітлено основні положення ДТР Х-хвиль в моделі Евальда - Лауе. Подано розв'язки фундаментального рівняння дифракції в одно-, дво- та багатохвильовому наближеннях. Проаналізовано амплітуди та інтенсивності розсіяння заломлених та дифрагованих хвиль.

Изложены основы динамической теории рассеяния (ДТР) Х-волн. Описаны свойства электромагнитного поля, взаимодействие электромагнитных волн со средой и поляризация Х-волн. Освещены основные положения ДТР Х-волн в модели Эвальда - Лауэ. Приведены решения фундаментального уравнения дифракции в одно-, двух- и многоволновом приближениях. Проанализированы амплитуды и интенсивности рассеяния преломленных и дифрагированных волн.

Досліджено особливості формування дифракційних зображень комплексів із крайових дислокацій, які утворюють скупчення (з двох, трьох і більше дислокацій), а також малокутові дислокаційні межі (стінки). Виявлено різноманітні за інтенсивністю інтерференційні ефекти перерозсіяння та внутрішнього відбивання породжених і вже існуючих хвильових полів на товщинних розподілах інтенсивності у випадку наявності в одній і тій же площині ковзання крайових дислокацій з паралельними і антипаралельними Бюргерсовими векторами.

Изложены основы нестандартной динамической теории рассеяния рентгеновских лучей, которая основана на пространственном масштабировании полного волнового поля. Рассеяние излучения на кристалле рассмотрено как решение уравнений Максвелла с модельной электронной плотностью в рамках модифицированной теории возмущений. Развитый подход позволяет с единых позиций рассматривать различные геометрические схемы дифракции, включая резко асимметричные, а также дифракцию в условиях полного внешнего отражения.

Проанализировано отражение рентгеновских лучей от периодических латеральных поверхностей, характеризующихся крупномасштабным одномерным профилем и мелкомасштабными шероховатостями. В приближении Кирхгоффа, когда крупномасштабные неровности поверхности представляются локально плоскими участками, получены аналитические выражения для сечения когерентного рассеяния. Для модельных профилей получены зависимости интенсивности отражения от угла наблюдения и отражательной способности для зеркального и незеркального пиков.

В рамках статистической теории дифракции рассмотрены характерные особенности диффузного рассеяния от полупроводниковой сверхрешетки с вертикально коррелированными квантовыми точками. Показано, что в условиях рентгеновской дифракции на сверхрешетке угловые положения основного и сателлитных максимумов диффузного рассеяния могут не совпадать с положениями сопутствующих когерентных пиков.

Представлен новый подход для моделирования кривых рентгеновской рефлектометрии с применением метода частиц. В качестве частиц использованы пучки рентгеновских лучей единичной интенсивности. Учет многократных отражений и преломлений лучей в приближении френелевской оптики, а также отражений от границы "поверхностный слой - объем", обеспечили количественное соответствие экспериментальной и рассчитанной кривых. Исследованы механизмы формирования распределения интенсивности кривых полного внешнего отражения (ПВО) в различных угловых диапазонах. Предлагаемый алгоритм позволяет рассчитывать рентгеновские кривые ПВО от моделированного (фрактального) профиля поверхности и определять параметры усредненного фрактального профиля путем подгонки моделированной кривой к экспериментальной. Соответствующее программное обеспечение разработано в среде Delphi.

Investigations of the Fermi surface via the electron momentum distribution reconstructed from either angular correlation of annihilation radiation or Compton scattering experimental spectra are presented. The basis of these experiments and mathematical methods applied in reconstructing three-dimensional electron momentum densities from line or plane projections measured in these experiments are described. Finally, papers where such techniques have been applied to study the Fermi surface of metallic materials are reviewed.

В межах динамічної теорії розсіяння Рентгенових променів у недосконалих кристалах розглянуто випадок геометрії дифракції за Ляве без обмежень на розміри дефектів. Одержано аналітичні вирази для когерентних компонент коефіцієнтів проходження і відбиття для кристалів з однорідно розподіленими дефектами різних типів. З урахуванням анізотропії полів зміщень атомів кристала навколо дефектів одержано аналітичні вирази для дисперсійних поправок до хвильових векторів "сильних" Бреггових хвиль, які виникають внаслідок дифузного розсіяння. Враховано інструментальні фактори трикристального дифрактометра у режимі картографування оберненого простору.

Індекс рубрикатора НБУВ: В346.34

Рубрики:

Інтерференція. Дифракція < Оптичні явища >

Шифр НБУВ: Ж29137 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Розглянуто фізичні основи дифракційних методів дослідження структури кристалів. Описано природу виникнення та спектральні характеристики X-хвиль. В межах кінематичної теорії дифракції розглянуто розсіяння електроном, атомом, елементарною коміркою та кристалом. Проаналізовано розсіяня та поглинання X-хвиль з урахуванням впливу температури та дисперсії на інтенсивність дифракційних максимумів. Описано класичні експериментальні методи дослідження реальної структури кристалічних тіл. Проаналізовано особливості та недоліки кінематичної теорії дифракції.

Рассмотрены физические основы дифракционных методов исследования структуры кристаллов. Описаны природа возникновения и спектральные характеристики X-волн. В пределах кинематической теории дифракции рассмотрено рассеивание электроном, атомом, элементарной ячейкой и кристаллом. Проанализировано рассеивания и поглощения X-волн с учетом влияния температуры и дисперсии на интенсивность дифракционных максимумов. Описаны классические экспериментальные методы исследования реальной структуры кристаллических тел. Проанализированы особенности и недостатки кинематической теории дифракции.

Індекс рубрикатора НБУВ: В346.34

Рубрики:

Інтерференція. Дифракція < Оптичні явища >

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ