Індекс рубрикатора НБУВ: В346.34,022

Рубрики:

Інтерференція. Дифракція < Оптичні явища >

Шифр НБУВ: РА306295 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Ключ. слова: динамическая дифракция, квазизапрещенные отражения, нестехиометрия, кулоновские дефекты, когерентное и диффузное рассеяние, рентгеновские лучи
Індекс рубрикатора НБУВ: В346.3

Рубрики:

Оптичні явища

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Для випадку асиметричної дифракції Лауе зі згином кристалічних площин параболічної форми проведено дисперсійний аналіз розсіяння рентгенівських променів. Детально досліджено граничні випадки сильних і слабких деформацій. Доведено, що в разі сильних деформацій, які відповідають кінематичному режиму дифракції, збільшення асиметрії розсіяння ефективно призводить до явища "розгладжування" деформації та зменшення її впливу на розсіяння. Показано, що у випадку, коли товщина кристала істотно перевищує довжину екстинкції, це явище може мати місце і за умов динамічного режиму дифракції.

Індекс рубрикатора НБУВ: В346.3

Рубрики:

Оптичні явища

Шифр НБУВ: Ж22412/а Пошук видання у каталогах НБУВ 

Наведено огляд робіт з динамічного розсіювання рентгенівських променів у гетероепітаксійних та акустичних надгратках. Розглянуто основні підходи до опису динамічної дифракції в металевих і напівпровідникових надгратках. Значну увагу приділено формалізму зон стійких і нестійких розв'язків системи рівнянь Такаги для надграток, який базується на методах якісної теорії диференціальних рівнянь. Викладено загальні якісні підходи до аналізу особливостей дифракції в надгратках різноманітних моделей, заснованих на концепції єдиної параметризації характеристик надгратки та хвильового поля. Формалізм зонних діаграм дозволив класифікувати параметри теорії динамічної дифракції в надгратках на "зовнішні" та "внутрішні". Розвинутий формалізм дозволяє визначити структурні характеристики надгратки за виглядом кривої дифракційного відбиття.

Методом Монте - Карло в кінематичному наближенні змодельовано розподіли інтенсивності рентгенівських променів, розсіяних монокристалами з тетрагональною граткою, які являють собою комплекс двійникових доменів, розділених паралельними когерентними границями. Розподіли товщин двійникових доменів змодельовано з використанням геометричної, гаусової та нормально-логарифмічної функцій. Для певних значень параметрів цих функцій виявлено "критичні" ефекти розсіяння, що являють собою перетворення тетрагонального дуплета на одиночний пік або мультиплет. Показано, що кожна з характеристик профілю тетрагонального дуплета залежить від кількох параметрів, які характеризують двійникову мікроструктуру кристала, а також ступеня тетрагональності.

Проаналізовано зображувальні можливості сингулярної компоненти поля, що формується під час дифракції плоскої хвилі на довільній апертурі. Характерною особливістю цієї компоненти є здатність зберігати у своїй структурі форму апертурного краю, який її породив. Обговорено перспективи практичного використання даного явища.

Ключ. слова: рентгенівські промені, лауе-дифракція, монокристал, мікродефект, пружний вигин
Індекс рубрикатора НБУВ: В346.34

Рубрики:

Інтерференція. Дифракція < Оптичні явища >

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В346.361

Рубрики:

Комптонівське розсіювання (Комптон-ефект)

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

The paper describes the possibility of producing a focused parametric X-ray radiation (PXR) without applying any special X-ray optics. The PXR is emitted by relativistic charged particles that are channeling along a bent crystal. The PXR emitted from the whole length of the bent crystal is brought into focus. Some properties of focused PXR are estimated for typical experimental conditions, its possible applications are discussed. Besides, the feasibility of diffraction of parametric X-ray radiation emitted by relativistic particles in a bent crystal is described for the first time. The PXR generated at one set of crystallographic planes may be diffracted by another set of crystallographic planes in the same bent crystal. In the example being, the PXR is emitted in the backward direction and undergoes diffraction at a right angle. After diffraction, the PXR escapes from the thin crystal and becomes focused. Some properties of the diffracted focused PXR are estimated for typical experimental conditions. The experiment for observation of focused non-diffracted and diffracted PXR is proposed. Application of focused PXR for online control of the bent crystal and paricle beam state and the bent crystal alignment is proposed. Besides, possibilities for diffraction, extraction and focusing of crystal undulator radiation, as well as focusing of channeling radiation from a bent crystal are proposed. The installation of X-ray detector(s) in the vicinity of Bragg direction(s) is proposed in forthcoming experiments with crystalline undulator for observation of undulator radiation and online control of the undulator and particle beam state and

also undulator alignment.

З'ясовано, що причинами немарковості процесів послаблення потоку рентгенівських квантів у речовині є великий вклад розсіяного випромінювання у результаті особливостей експериментального устаткування та об'єктів, оточуючих зразок, що підлягає аналізу з використанням потоку рентгенівських квантів та внутрішніх особливостей розподілу щільності речовини у зразку, який досліджується. Немарковість процесів описано за допомогою дрібного рівняння переносу та його точних рішень, що виражені через функції Міттаг-Леффлера.

Указано, что причинами немарковости процессов ослабления потока рентгеновских квантов в веществе является большой вклад рассеянного излучения в результате особенностей экспериментальной установки и объектов, окружающих образец, подвергающийся анализу с использованием потока рентгеновских квантов и внутренних особенностей распределения плотности вещества в исследуемом образце. Немарковость процессов описана с помощью дробного уравнения переноса и его точных решений, выраженных через функции Миттаг-Леффлера.

The reasons no-Markov's processes of easing of a flow of x-ray quantums in substance is the large contribution of absent-minded radiation in result as features of experimental installation and objects environmental a sample, exposed to the analysis with use of a flow of x-ray quantums, and internal features of distribution of density of substance in a researched sample. No-Markov's processes is described with the help of the fractional equation of carry and his(its) exact decisions expressed through functions Mittag-Leffler

Розглянуто фізичні основи дифракційних методів дослідження структури кристалів. Описано природу виникнення та спектральні характеристики X-хвиль. В межах кінематичної теорії дифракції розглянуто розсіяння електроном, атомом, елементарною коміркою та кристалом. Проаналізовано розсіяня та поглинання X-хвиль з урахуванням впливу температури та дисперсії на інтенсивність дифракційних максимумів. Описано класичні експериментальні методи дослідження реальної структури кристалічних тіл. Проаналізовано особливості та недоліки кінематичної теорії дифракції.

Рассмотрены физические основы дифракционных методов исследования структуры кристаллов. Описаны природа возникновения и спектральные характеристики X-волн. В пределах кинематической теории дифракции рассмотрено рассеивание электроном, атомом, элементарной ячейкой и кристаллом. Проанализировано рассеивания и поглощения X-волн с учетом влияния температуры и дисперсии на интенсивность дифракционных максимумов. Описаны классические экспериментальные методы исследования реальной структуры кристаллических тел. Проанализированы особенности и недостатки кинематической теории дифракции.

Індекс рубрикатора НБУВ: В346.34

Рубрики:

Інтерференція. Дифракція < Оптичні явища >

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В346.34

Рубрики:

Інтерференція. Дифракція < Оптичні явища >

Шифр НБУВ: Ж29137 Пошук видання у каталогах НБУВ 

В межах динамічної теорії розсіяння Рентгенових променів у недосконалих кристалах розглянуто випадок геометрії дифракції за Ляве без обмежень на розміри дефектів. Одержано аналітичні вирази для когерентних компонент коефіцієнтів проходження і відбиття для кристалів з однорідно розподіленими дефектами різних типів. З урахуванням анізотропії полів зміщень атомів кристала навколо дефектів одержано аналітичні вирази для дисперсійних поправок до хвильових векторів "сильних" Бреггових хвиль, які виникають внаслідок дифузного розсіяння. Враховано інструментальні фактори трикристального дифрактометра у режимі картографування оберненого простору.

Представлен новый подход для моделирования кривых рентгеновской рефлектометрии с применением метода частиц. В качестве частиц использованы пучки рентгеновских лучей единичной интенсивности. Учет многократных отражений и преломлений лучей в приближении френелевской оптики, а также отражений от границы "поверхностный слой - объем", обеспечили количественное соответствие экспериментальной и рассчитанной кривых. Исследованы механизмы формирования распределения интенсивности кривых полного внешнего отражения (ПВО) в различных угловых диапазонах. Предлагаемый алгоритм позволяет рассчитывать рентгеновские кривые ПВО от моделированного (фрактального) профиля поверхности и определять параметры усредненного фрактального профиля путем подгонки моделированной кривой к экспериментальной. Соответствующее программное обеспечение разработано в среде Delphi.

Investigations of the Fermi surface via the electron momentum distribution reconstructed from either angular correlation of annihilation radiation or Compton scattering experimental spectra are presented. The basis of these experiments and mathematical methods applied in reconstructing three-dimensional electron momentum densities from line or plane projections measured in these experiments are described. Finally, papers where such techniques have been applied to study the Fermi surface of metallic materials are reviewed.

Проанализировано отражение рентгеновских лучей от периодических латеральных поверхностей, характеризующихся крупномасштабным одномерным профилем и мелкомасштабными шероховатостями. В приближении Кирхгоффа, когда крупномасштабные неровности поверхности представляются локально плоскими участками, получены аналитические выражения для сечения когерентного рассеяния. Для модельных профилей получены зависимости интенсивности отражения от угла наблюдения и отражательной способности для зеркального и незеркального пиков.

Изложены основы нестандартной динамической теории рассеяния рентгеновских лучей, которая основана на пространственном масштабировании полного волнового поля. Рассеяние излучения на кристалле рассмотрено как решение уравнений Максвелла с модельной электронной плотностью в рамках модифицированной теории возмущений. Развитый подход позволяет с единых позиций рассматривать различные геометрические схемы дифракции, включая резко асимметричные, а также дифракцию в условиях полного внешнего отражения.

В рамках статистической теории дифракции рассмотрены характерные особенности диффузного рассеяния от полупроводниковой сверхрешетки с вертикально коррелированными квантовыми точками. Показано, что в условиях рентгеновской дифракции на сверхрешетке угловые положения основного и сателлитных максимумов диффузного рассеяния могут не совпадать с положениями сопутствующих когерентных пиков.