Пошуковий запит: (<.>U=В372.144$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 15
Представлено документи з 1 до 15
|
| 1. | Ж69398 Панин С. Б. Дифракция плоской электромагнитной волны на решетке с киральной средой [Текст] 4: 2 // Радиофизика и электроника.-С.29-37
|
| 2. | Ж26988 Фреїк Д. М. Закони дисперсії та механізми розсіювання носіїв заряду у кристалах n-PbSe [Текст] 46: 10 // Укр. фіз. журн.-С.1083-1086
|
| 3. | Ж14063 Стеценко Ю. Е. Интеркалирование фуллерита С60 гелием и аргоном при нормальных температуре и давлении [Текст] 29: 5 // Физика низ. температур.-С.597-602
|
| 4. | Ж14161 Блащук А. Г. Применение метода дифракции медленных электронов для исследования статических дефектов в поверхностных слоях [Текст] 27: 3 // Металлофизика и новейшие технологии.-С.377-397
|
| 5. | Ж69571 Хорошун В. В. Математическое моделирование дифракции плоских электромагнитных волн на ленточных решетках [Текст]: 2 // Вестн. Херсон. нац. техн. ун-та.-С.344-348
|
| 6. | РА376916 Гарабажів Я. Д.Чернів. нац. ун-т ім. Ю.Федьковича. Формування картин Кікучі дифракції в синтезованих кристалах алмазу [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07.- URL: /ard/2010/
|
| 7. | Ж14063 Данчук В. В. Теория дифракции в неупорядоченных кристаллах, образованных линейными асимметричными молекулами [Текст] / В. В. Данчук, М. А. Стржемечный 38: 3 // Физика низ. температур.-С.296-300
|
| 8. | Ж28079/рад.фіз.Ел. Vasyliev I. Diffraction of light by acoustic waves in periodic layered [Текст] / I. Vasyliev, S. Kolienov: Вип. 17 // Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Радіофізика та електроніка.-С.28-29
|
| 9. | Ж16425 Chukhovskii F. N. Domino phase retrieval algorithm for structure determination using electron diffraction and high resolution transmission electron microscopy patterns [] // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, 2003. т.Т. 6,N № 3.-С.397-403
|
| 10. | Ж14161 Борча М. Д. Определение структурной неоднородности кристаллов по данным анализа картин Кикучи [] // Металлофизика и новейшие технологии, 2013. т.Т. 35,N № 8.-С.1135-1148
|
| 11. | Ж72631 Лизунов В. В. Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. I. Теоретическая модель [] // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2015. т.Т. 13,N вип. 1.-С.99-115
|
| 12. | Ж14161 Молодкин В. Б. Аномальная чувствительность к микродефектам деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в монокристаллах [] // Metallophysics and Advanced Technologies, 2018. т.Т. 40,N № 8.-С.1123-1131
|
| 13. | Ж14161 Фодчук И. М. Определение величины локальных деформаций и их анизотропии в поликристаллическом Ge по данным дифракции обратно рассеянных электронов [] // Metallophysics and Advanced Technologies, 2019. т.Т. 41,N № 3.-С.403-415
|
| 14. | ДС47322 Бондарчук О. Б. Тонка структура спектрів пружно відбитих електронів та визначення параметрів ближнього порядку неупорядкованих поверхонь твердих тіл [Текст] : Дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04 / Бондарчук Олександр Борисович ; Київський ун-т ім. Тараса Шевченка
|
| 15. | ДС47322 Бондарчук О. Б. Тонка структура спектрів пружно відбитих електронів та визначення параметрів ближнього порядку неупорядкованих поверхонь твердих тіл [Текст] : Дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04 / Бондарчук Олександр Борисович ; Київський ун-т ім. Тараса Шевченка
|
Простий пошук
Віртуальна довідка