![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Віртуальна довідка ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Тематичний інтернет-навігатор ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Наукова електронна бібліотека ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Автореферати дисертацій ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Реферативна база даних ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Книжкові видання та компакт-диски ![](/irbis64r_81/images/db_navy.gif) Журнали та продовжувані видання
![Mozilla Firefox](../../ico/mf.png) |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Формат представлення знайдених документів: | повний | стислий |
Пошуковий запит: (<.>U=В372.16$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 9
Представлено документи з 1 до 9
|
| | | | |
1. |
Бутько В. Г. Интерпретация результатов ЯГР-исследований купратов (Ndsub1 - ix/i; /subGdsub; ix/i; /sub)sub2/sub CuOsub4/sub / В. Г. Бутько, В. Д. Дорошев // Физика и техника высоких давлений. - 1999. - 9, № 3. - С. 81-84. - Библиогр.: 5 назв. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.16
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14388 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
2. |
Копанец И. М. Перспективы создания нейтронорадиографической установки на основе ЛУЭ / И. М. Копанец, Н. А. Кочнев, О. Г. Савчук, В. В. Селюкова, М. А. Хажмурадов; НАН Украины. Нац. науч. центр "Харьк. физ.-техн. ин-т". - Х., 2004. - 28 c. - (Препр. ХФТИ 2004-4). - Библиогр.: 9 назв. - рус.Освещены перспективы развития нейтронографии в Украине, приведены критерии оптимизации параметров нейтронорадиографической (НР) установки на основе линейного ускорителя электронов. Описаны методики визуализации НР-изображений, оценки параметров НР-установки, в частности, измерения полной плотности нейтронов и кадмиевого отношения, пространственного распределения плотности потока нейтронов, фона рассеянных нейтронов, оценки углового распределения гамма-излучения, гамма-фона в нейтронной камере, контроля качества. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.16
Рубрики:
Шифр НБУВ: Р102860 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
3. |
Данчук В. В. Параметр ориентационного порядка в упорядоченной фазе твердого дейтерия из нейтронографических данных / В. В. Данчук, Н. Н. Гальцов, М. А. Стржемечный, А. И. Прохватилов // Физика низ. температур. - 2004. - 30, № 2. - С. 163-168. - Библиогр.: 26 назв. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.16
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
4. |
Булавін Л. А. Нейтронні дослідження структурного переходу "міцели - кристаліти" в рідинній системі DVB2DO - тетрадецилтриметиламоній бромід - NaBr / Л. А. Булавін, О. І. Іваньков, В. М. Сисоєв // Ядер. фізика та енергетика. - 2010. - 11, № 1. - С. 86-89. - Бібліогр.: 7 назв. - укp. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.16 + Г534.8
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж25640 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
5. |
Глазков В. П. Нейтронодифракционные исследования механоактивированных фуллеренов / В. П. Глазков, С. С. Агафонов, И. Ф. Кокин, В. А. Соменков // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2010. - 8, вип. 2. - С. 439-444. - Библиогр.: 5 назв. - рус. Індекс рубрикатора НБУВ: Ж620 + В372.164
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
6. |
Лень Є. Г. Основи динамічної багатопараметричної дифрактометрії монокристалів з дефектами : автореф. дис. ... д-ра фіз.-мат. наук : 01.04.07 / Є. Г. Лень; НАН України, Ін-т металофізики ім. Г.В. Курдюмова. - К., 2012. - 36 c. - укp.Відкрито явище унікальної структурної чутливості залежностей картини багатократного бреггівського та дифузного розсіяння від умов дифракції випромінень у монокристалах з дефектами. Встановлено, що природа цього явища полягає у виникненні взаємозв'язку між залежностями динамічної картини розсіяння від характеристик дефектів і від умов дифракції за рахунок нелінійних ефектів взаємного впливу процесів багатократного розсіяння на періодичній і флуктуаційній частинах кристалічного потенціалу. Побудовано узагальнені теоретичні моделі динамічного розсіяння випромінень у кристалах з дефектами довільних розмірів для різних умов дифракції та методів вимірювання. Встановлено та кількісно описано механізми, що обумовлюють відкрите явище та забезпечують радикальне (на кілька порядків величини) підвищення чутливості до характеристик дефектів динамічної картини розсіяння у порівнянні з кінематичною. Розроблено й апробовано принципово нові кількісні методи динамічної багатопараметричної дифрактометрії дефектів декількох типів у монокристалах, які базуються на спільній обробці даних дифракційних експериментів, одержаних за різних умов динамічної дифракції та різними експериментальними методами, і забезпечують підвищення як чутливості, так і однозначності й інформативності комбінованої діагностики складних дефектних структур у монокристалічних виробах сучасних технологій. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.164,022
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА394642 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
7. |
Молодкін В. В. Ефект чутливості до дефектів залежностей від умов дифракції картини багатократного розсіяння у кристалах : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / В. В. Молодкін; Київ. нац. ун-т ім. Т. Шевченка. - К., 2012. - 18 c. - укp.Вперше встановлено новий ефект унікальної чутливості до параметрів дефектів характеру впливу умов дифракції на динамічну картину розсіяння. Показано, що його фізична природа полягає у виникненні взаємозв'язку залежностей від характеристик дефектів і від умов дифракції динамічної картини розсіяння за рахунок появи за умов багатократного розсіяння взаємного впливу нелінійних процесів розсіяння на періодичній і флуктуаційній складових потенціалу. Встановлено, що цей ефект може забезпечити радикальне підвищення чутливості до характеристик дефектів динамічної картини розсіяння в порівнянні з кінематичною на кілька порядків величини. Показано, що керована цілеспрямованою варіацією умов дифракції зміна результату конкурентного впливу зазначених нелінійних ефектів може експериментально спостерігатися як чутлива до характеристик дефектів багатообразність динамічної картини розсіяння. Все це дозволило радикально підвищити не тільки чутливість, але й інформативність динамічної діагностики, вперше забезпечити можливість однозначного розв'язання оберненої задачі багатопараметричної дифрактометрії дефектів у сучасних монокристалічних матеріалах. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.164,022
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА394643 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
8. |
Авдеев М. В. Нейтронные исследования феррожидкостей / М. В. Авдеев, В. И. Петренко, А. В. Феоктистов, И. В. Гапон, В. Л. Аксенов, Л. Векаш, П. Копчанский // Укр. фіз. журн.. - 2015. - 60, № 8. - С. 728-736. - Библиогр.: 71 назв. - рус.Проведен обзор нейтронных исследований различного типа магнитных жидкостных систем (феррофлюидов). Рассмотрены преимущества и недостатки других комплементарных методов структурного анализа жидкостных наносистем. Метод малоуглового рассеяния нейтронов (МУРН) с длиной волны 0,1 - 1 нм является классическим примером использования излучений при определении структуры наносистем на уровне размеров 1 - 100 нм. На реальных примерах показаны возможности МУРН метода при исследовании структуры феррожидкостей и эффектов в них. Індекс рубрикатора НБУВ: В333.7 в738.4 + В372.16
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
| | | | |
9. |
Любченко О. І. Високороздільна Х-променева дифрактометрія поверхневих шарів монокристалів та багатошарових структур при іонному опроміненні : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07 / О. І. Любченко; Національна академія наук України, Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова. - Київ, 2019. - 20 c. - укp.Викладено результати дослідження впливу іонної імплантації на структурно-деформаційний стан надграток AlN/GaN, приповерхневих шарів монокристалів InSb і GaN та розробки методик рентгенодифракційного аналізу цих ефектів. Розглянуто підхід до моделювання рентгенодифракційних спектрів в іонно-імплантованих кристалах InSb і GaN та методику відтворення профілів деформації в них. Проведено детальний аналіз неідеальних надграткових структур AlN/GaN з неоднорідностями товщини шарів НГ та з врахуванням впливу дислокацій. Показано, що розраховані з одночасним врахуванням цих порушень структури спектри для AlN/GaN НГ добре пояснюють спостережуване на експериментальних спектрах розширення і асиметрію піків сателітів, особливо для рефлексів вищих порядків. Встановлено, що іонна імплантація – потужний метод для трансформації структурного і деформаційного стану градієнтних шарів і НГ. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.161,022 + В372.7,022 + В371.21,022
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА441152 Пошук видання у каталогах НБУВ
|
|
|