Індекс рубрикатора НБУВ: В371.3 + В374.34

Рубрики:

Квантова теорія

"Аномальна" дисперсія

Шифр НБУВ: Ж41279 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Розроблено методи та визначено технологічні режими для створення матричних нанокомпозитів на основі CO та активних діелектриків (Bi₁₂SiO₂₀, Bi₁₂GeO₂₀, TeO₂, Ba(NO₃)₂, LilO₃), органічного лазерного барвника R6G, бензоксазолу з внутрішньо молекулярним фотопереносом протону BBHQ. Доведено, що кристалізація речовини в порах опалової матриці дозволяє одержувати нанокристали активних діелектриків. Запропоновано оригінальну класифікацію структурних дефектів об'ємних і плівкових CO та введено кількісний параметр, який характеризує степінь дефектності структури зразків. Розроблено модель 1D періодичної діелектричної структури, яка враховує флуктуації періоду структури та діаметра глобул. У межах моделі розраховано спектри густини оптичних станів та бреггівського відбивання з урахуванням багатократного дифузного розсіювання світла. Виявлено підсилення інтенсивності оптичних явищ (флуоресценції, комбінаційного розсіювання світла, спонтанного розсіювання світла) в CO з дефектами та встановлено зв'язок з концентрацією дефектів структури.

Досліджено явище дифракції лазерного випромінювання на частках порушеного поверхневого шару п'єзокераміки, що нанесено на плоско паралельну скляну пластину. У прямому і відбитому світлі чітко спостерігається дифракційна картина, що представляє собою чергування світлих і темних концентричних кілець, що відповідає умовам максимумів і мінімумів дифракції. У центрі дифракційної картини є яскрава пляма. Було встановлено залежність радіусу дифракційних кілець від товщини скляної пластини. Кути дифракції при заданому значенні порядку максимуму для скляних пластини різної товщини були однаковими. Частки порушеного поверхневого шару п'єзокераміки, що розсіюють світло, мають різні характерні розміри. Дослідження часток за допомогою оптичної мікроскопії показало, що їх розміри знаходяться в межах ~ (1 - 3) мкм. Форма зерен переважно близька до сферичної. Для аналізу дифракційної картини застосовувалося наближення Фраунгофера. Проведено аналіз розподілу інтенсивності світла дифракційної картини залежно від кута дифракції. Змодельовано повну розсіяну інтенсивність як функцію кута для часток діаметром 1,7 мкм та 3,0 мкм. Кути дифракції стають меншими зі збільшенням розміру часток. Побудовано розподіл світлового потоку у дифракційній картині. Цей розподіл показує, що більшість інтенсивності розсіювання зосереджена поблизу центру дифракційної картини, куди потрапляє переважна частина лазерного випромінювання. Зі збільшенням кута дифракції відносна інтенсивність максимумів описується закономірністю 1 : 0,71 : 0,25 : 0,13. Здійснено оцінку розмірів часток порушеного поверхневого шару п'єзокераміки за допомогою методу лазерної дифракції. Середній діаметр часток поверхневого порушеного шару п'єзокераміки становить величину 1,7 мкм. Можна стверджувати, що частки таких розмірів надають основний внесок у створення дифракційної картини, одержаної авторами за даних експериментальних умов.