Представлены результаты исследования некоторых характеристик темнового тока фотодетекторных линеек спектрометров в зависимости от температуры. Они свидетельствуют о возможности определения температуры фотодетекторов программными методами на основе получаемых при элементном анализе данных без переделки электротехнической части измерительной системы. Это позволяет компенсировать влияние мешающих факторов и повысить точность анализов в лабораторных и заводских условиях.