Розглянуто властивості одного з елементів, що входять до складу швидкодіючої системи фазового автопідстроювання (ФАП), фазового детектора з динамічним зворотним зв'язком (ФДДЗЗ), властивості якого значною мірою визначають характер процесів, які відбуваються у системі ФАП. Проведено аналіз статичних і динамічних характеристик ФДДЗЗ.

Проаналізовано пропускну здатність дискретно-неперервного каналу зв'язку під впливом навмисних завад для радіостанцій із стрибкоподібною зміною робочої частоти та спектрально-ефективними видами модуляції сигналу. Одержано нові аналітичні та графічні залежності пропускної здатності від відношення сигнал - навмисна завада для різних видів модуляцій під час застосування технології розширення спектра.

Розглянуто модель перехідної ланки між контактною площинкою підкладки та зовнішнім виводом інтегральної схеми. Наведено формули, що описують її параметри - опір, час затримки, стала часу дільниці, тривалість перехідного процесу та її втрати. Розраховано залежність втрат від частоти. Показано, що втрати на частотах до 3 ГГц задовольняють працездатність дільниці. Визначено, що час затримки на дільниці слабко залежить від активної складової її опору. На нижчих частотах ця залежність зростає, але сам час затримки у цьому випадку зменшується.

Рассмотрен выходной эффект квадратурного корреляционного приемника при приеме фазоманипулированного широкополосного сигнала при наличии на входе приемника полосового фильтра. Получены аналитические выражения для выходного эффекта приемника, пропорционального модулю комплексной огибающей взаимнокорреляционной функции (ВКФ) принимаемого и опорного сигналов. Проанализированы зависимости модуля ВКФ от времени задержки и расстройки по частоте принимаемого сигнала относительно опорного и ширины полосы пропускания входного фильтра. Показано, что величина максимума ВКФ достигается при отличной от нуля временной задержке принимаемого сигнала и нулевой расстройке по частоте. Величина временной задержки, соответствующая максимуму ВКФ, зависит от ширины полосы пропускания входного фильтра.

Вивчено питання проектування принципової схеми пристрою тестування інтегральних мікросхем. Мета статті - дослідження проектування принципової схеми пристрою, якій підключає до комп'ютера, призначеного для тестування й визначення типу інтегральних мікросхем методом сигнатурного аналізу мікросхем, що дозволяє робити перевірку всіх статичних режимів роботи цих інтегральних мікросхем. Завдання - за допомогою обраних складових принципової схеми пристрою, а саме: вузлу вхідних регістрів; пристрою узгодження по входу; пристроюй узгодження по виходу; керуючого пристрою; блоку живлення; пристрою комутації живлення; джерела живлення пристрою дослідити їх принцип дії, за допомогою якого обгрунтувати технічні рішення, впровадження яких в практику вимірювання дозволить здійснювати перевірку всіх статичних режимів роботи інтегральних мікросхем. Висновки: запропоновані технічні рішення, що одержані при дослідженні проектування принципової схеми пристрою тестування інтегральних мікросхем надають можливість обрати найбільш корисну принципову схему пристрою, якій підключає до ІВМ - сумісного комп'ютера, призначеного для тестування й визначення типу інтегральних мікросхем.

Вивчено питання проектування принципової схеми пристрою тестування інтегральних мікросхем. Мета статті - дослідження проектування принципової схеми пристрою, якій підключає до комп'ютера, призначеного для тестування й визначення типу інтегральних мікросхем методом сигнатурного аналізу мікросхем, що дозволяє робити перевірку всіх статичних режимів роботи цих інтегральних мікросхем. Завдання - за допомогою обраних складових принципової схеми пристрою, а саме: вузлу вхідних регістрів; пристрою узгодження по входу; пристроюй узгодження по виходу; керуючого пристрою; блоку живлення; пристрою комутації живлення; джерела живлення пристрою дослідити їх принцип дії, за допомогою якого обгрунтувати технічні рішення, впровадження яких в практику вимірювання дозволить здійснювати перевірку всіх статичних режимів роботи інтегральних мікросхем. Висновки: запропоновані технічні рішення, що одержані при дослідженні проектування принципової схеми пристрою тестування інтегральних мікросхем надають можливість обрати найбільш корисну принципову схему пристрою, якій підключає до ІВМ - сумісного комп'ютера, призначеного для тестування й визначення типу інтегральних мікросхем.

Проаналізовано сферу застосування, технології і принципи роботи безпроводових локальних мереж, що дало можливість позначити проблемні місця цих технологій, на які необхідно звертати особливу увагу під час проектування: проблема прихованого вузла; взаємні завади між сусідніми точками доступу (внутрішньосистемна еМС); міжсистемні завади; забезпечення QoS для відповідальних додатків; розширення безпроводових локальних мереж; вплив особливостей розгортання мережі. Розглянуто методи, використовувані для вирішення проблем еМС в безпроводових локальних мережах, і досліджено їх ефективність: механізм доступу до середовища передавання; стандарт IEEE 802.11е (QoS); додаткові стандарти, призначені для зменшення впливу завад (802.11 h і k); кодування і модуляцію. Показано, що облік внутрішньосистемних і міжсистемних завад потрібно здійснювати на ранніх стадіях проектування безпроводових локальних мереж. З огляду на проведений аналіз зроблено висновок щодо потреби розроблення методики проектування безпроводових локальних мереж на базі інформаційних систем з урахуванням електромагнітних завад, що уможливить зменшення часу їх проектування та збільшення ефективності їх подальшого функціонування.