Описана автоматизированная система моделирования и диагностики АСМИД-Е, разработанная в Институте прикладной математики и механики НАН Украины. В данную версию системы вошли программы, реализующие новые алгоритмы моделирования и генерации тестов. Особое внимание уделено быстродействию алгоритмов и качеству генерируемых тестовых наборов, чему способствует ориентация системы на универсальную многозначную логику В16, а также использование генетических алгоритмов. Применение данной системы должно способствовать повышению эффективности проектирования и производства цифровых устройств.

Розглянуто задачу програмного пошуку компонентів цифрового пристрою, для виявлення його несправностей. Запропоновано двохетапну процедуру без використання словника несправностей. Вважаються заданими результати тестування (вхід-вихідна послідовність) і специфікація пристрою (компоненти, їх зв'язки та функції).

Розглянуто питання моделювання компонентних структур цифрових пристроїв стосовно систем внутрисхемного діагностування з використанням формального апарату опису відношень фрагментів схем, які формуються.

Розглянуто моделі компонентних структур цифрових пристроїв для систем внутрішньо-схемного діагностування. Формування моделей базується на здатності апаратних засобів пошуку несправностей створювати штучні ланцюги передачі тестової інформації між внутрішніми вузлами об'єктів.

Разработан алгоритм параллельного моделирования функциональных неисправностей типа "неисправности одиночного перехода" для последовательных цифровых схем. Алгоритм реализован на языке Си персональных компьютеров ІВМ РС с использованием единой системы многозначных функций.

Викладено методи підготовки діагностичної інформації, зокрема, складання тестів ручним способом та з використанням ПЕОМ, моделювання в задачах тестового контролю. Розглянуто питання реалізації тестового контролю цифрових схем, запам'ятовувальних пристроїв цифрових систем. Описано послідовні сигнатурні аналізатори, а також наведено схеми паралельних сигнатурних аналізаторів.

Розглянуто метод аналітичного розрахунку компактних оцінок у випадку використання мінімальних породжуючих поліномів для регістрів здвигу з лінійними зворотними зв'язками. Отримано просту оцінку ефективності компактного тестування для генераторів тестових наборів та аналізаторів тестових реакцій кратної розрядності.

Проаналізовано сучасні методи діагностування цифрових пристроїв щодо їх ефективності та можливого внесення вторинних дефектів. На базі розробленої моделі теплофізичних процесів під час тестового покомпонентного діагностування цифрових пристроїв запропоновано методику автоматизованого пошуку умов їх бездефектного діагностування. Розглянуто питання декомпозиційного подання цифрових пристроїв. Представлено стратегії формування їх компонентних структур на базі lambda-розбиття та за умов конструктивних обмежень.

Викладено теоретичні засади технічного діагностування електронних і обчислювальних пристроїв, описано моделі об'єктів. Розглянуто методи побудови тестів, а також питання контролю передавання даних з використанням кодування.

Изложены теоретические основы технического диагностирования электронных и вычислительных приборов, описаны модели объектов. Рассмотрены методы структуры тестов, а также вопросы контроля передачи данных с использованием кодирования.

Висвітлено теоретичні основи технічного діагностування електронних і обчислювальних пристроїв. Розкрито суть основних понять з діагностування цифрових пристроїв. Увагу приділено моделям об'єктів і несправностей, оцінюванню повноти та ймовірності контролю, якісних показників діагностування, пошуку несправностей, сигналам у цифрових схемах. Запропоновано методи побудови тестів, покомпонентного діагностування. Висвітлено особливості використання кодування для контролю передавання інформації.

Освещены теоретические основы технического диагностирования электронных и вычислительных устройств. Раскрыта сущность основных понятий диагностирования цифровых устройств. Внимание уделено моделям объектов и неисправностей, оцениванию полноты и вероятности контроля, качественных показателей диагностирования, поиску неисправностей, сигналам в цифровых схемах. Предложены методы построения тестов, покомпонентного диагностирования. Освещены особенности использования кодирования для контроля передачи информации.

Розглянуто моделі та формальні правила формування оптимальних компонентних структур стосовно систем внутрішньосхемного тестового діагностування цифрових пристроїв.

Запропоновано швидкодіючий дедуктивно-паралельний метод зворотного моделювання несправностей, орієнтований на обробку цифрових проектів вентильного та рєстрового рівня опису. Швидкість програмної реалізації на порядок вище, ніж у методів прямого транспортування списків дефектів.

Розглянуто підхід до композиційного формування фрагментів цифрових схем для систем покомпонентного діагностування на основі організації у пристроях штучних каналів передавання тестової інформації шляхом комутації внутрішніх вузлів рівного потенціалу.

Описано кубічну технологію аналізу цифрових схем для генерації тестів та оцінювання їх якості. Запропоновано кубічний метод обробки несправностей моделі примітива та метод генерації тестів для константних несправностей, який використовує кубічні покриття списків несправностей для створення шляхів активізації.

Запропоновано швидкодійний дедуктивно-паралельний метод зворотнього моделювання несправностей, що використовує процедуру суперпозиції розв'язків, орієнтований на обробку надвеликих цифрових проектів вентильного та реєстрового рівнів опису. Наведено структури даних і програмно-орієнтовані алгоритми для реалізації методу в складі автоматичної системи генерації тестів.

Запропоновано новий метод контролю комбінаційних схем, що базується на логічному доповненні функцій виходів схеми. Розглянуто спосіб контролю із застосуванням коду "1 з 4". Наведено результати експериментальних досліджень для стандартних прикладів систем MCNC.

Наведено класифікаційні ознаки для систематизації відмовостійких цифрових пристроїв на програмованих логічних інтегральних схемах, розроблено їх узагальнену структурну модель та одержано аналітичні моделі оцінки надійності типових структур. Проаналізовано результати дослідження впливу безвідмовності елементів таких цифрових пристроїв на їх надійність і дано рекомендації щодо практичного використання структур.

Описано дискретні пристрої (комбінаційні та послідовнісні схеми) сукупностями предикатів, які дозволяють виконати їх функціональну верифікацію (встановити функціональну відповідність певному вихідному опису функцій або пристрою) засобами логічного програмування. Розглянуто приклади описів на мові логічного програмування ПРОЛОГ.

Розглянуто проблему верифікації та тестування складних цифрових систем, поданих на мовах опису апаратури високого рівня (VHDL, VERILOG). Досліджено функціональні моделі несправностей цифрових систем, описаних за допомогою цих мов.

Індекс рубрикатора НБУВ: З972-07-5-05

Рубрики:

Дискретна обчислювальна техніка

Шифр НБУВ: Ж14024 Пошук видання у каталогах НБУВ