Індекс рубрикатора НБУВ: В372.16

Рубрики:

Нейтронографія

Шифр НБУВ: Ж14388 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Освещены перспективы развития нейтронографии в Украине, приведены критерии оптимизации параметров нейтронорадиографической (НР) установки на основе линейного ускорителя электронов. Описаны методики визуализации НР-изображений, оценки параметров НР-установки, в частности, измерения полной плотности нейтронов и кадмиевого отношения, пространственного распределения плотности потока нейтронов, фона рассеянных нейтронов, оценки углового распределения гамма-излучения, гамма-фона в нейтронной камере, контроля качества.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.16

Рубрики:

Нейтронографія

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.16 + Г534.8

Рубрики:

Нейтронографія

Змішані системи. Системи з неорганічних, елементоорганічних та органічних сполук

Шифр НБУВ: Ж25640 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: Ж620 + В372.164

Рубрики:

Нанотехнології

Дифракція нейтронів в кристалах

Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Відкрито явище унікальної структурної чутливості залежностей картини багатократного бреггівського та дифузного розсіяння від умов дифракції випромінень у монокристалах з дефектами. Встановлено, що природа цього явища полягає у виникненні взаємозв'язку між залежностями динамічної картини розсіяння від характеристик дефектів і від умов дифракції за рахунок нелінійних ефектів взаємного впливу процесів багатократного розсіяння на періодичній і флуктуаційній частинах кристалічного потенціалу. Побудовано узагальнені теоретичні моделі динамічного розсіяння випромінень у кристалах з дефектами довільних розмірів для різних умов дифракції та методів вимірювання. Встановлено та кількісно описано механізми, що обумовлюють відкрите явище та забезпечують радикальне (на кілька порядків величини) підвищення чутливості до характеристик дефектів динамічної картини розсіяння у порівнянні з кінематичною. Розроблено й апробовано принципово нові кількісні методи динамічної багатопараметричної дифрактометрії дефектів декількох типів у монокристалах, які базуються на спільній обробці даних дифракційних експериментів, одержаних за різних умов динамічної дифракції та різними експериментальними методами, і забезпечують підвищення як чутливості, так і однозначності й інформативності комбінованої діагностики складних дефектних структур у монокристалічних виробах сучасних технологій.

Вперше встановлено новий ефект унікальної чутливості до параметрів дефектів характеру впливу умов дифракції на динамічну картину розсіяння. Показано, що його фізична природа полягає у виникненні взаємозв'язку залежностей від характеристик дефектів і від умов дифракції динамічної картини розсіяння за рахунок появи за умов багатократного розсіяння взаємного впливу нелінійних процесів розсіяння на періодичній і флуктуаційній складових потенціалу. Встановлено, що цей ефект може забезпечити радикальне підвищення чутливості до характеристик дефектів динамічної картини розсіяння в порівнянні з кінематичною на кілька порядків величини. Показано, що керована цілеспрямованою варіацією умов дифракції зміна результату конкурентного впливу зазначених нелінійних ефектів може експериментально спостерігатися як чутлива до характеристик дефектів багатообразність динамічної картини розсіяння. Все це дозволило радикально підвищити не тільки чутливість, але й інформативність динамічної діагностики, вперше забезпечити можливість однозначного розв'язання оберненої задачі багатопараметричної дифрактометрії дефектів у сучасних монокристалічних матеріалах.

Проведен обзор нейтронных исследований различного типа магнитных жидкостных систем (феррофлюидов). Рассмотрены преимущества и недостатки других комплементарных методов структурного анализа жидкостных наносистем. Метод малоуглового рассеяния нейтронов (МУРН) с длиной волны 0,1 - 1 нм является классическим примером использования излучений при определении структуры наносистем на уровне размеров 1 - 100 нм. На реальных примерах показаны возможности МУРН метода при исследовании структуры феррожидкостей и эффектов в них.

Викладено результати дослідження впливу іонної імплантації на структурно-деформаційний стан надграток AlN/GaN, приповерхневих шарів монокристалів InSb і GaN та розробки методик рентгенодифракційного аналізу цих ефектів. Розглянуто підхід до моделювання рентгенодифракційних спектрів в іонно-імплантованих кристалах InSb і GaN та методику відтворення профілів деформації в них. Проведено детальний аналіз неідеальних надграткових структур AlN/GaN з неоднорідностями товщини шарів НГ та з врахуванням впливу дислокацій. Показано, що розраховані з одночасним врахуванням цих порушень структури спектри для AlN/GaN НГ добре пояснюють спостережуване на експериментальних спектрах розширення і асиметрію піків сателітів, особливо для рефлексів вищих порядків. Встановлено, що іонна імплантація – потужний метод для трансформації структурного і деформаційного стану градієнтних шарів і НГ.